| 應用領域 | 醫療衛生,化工,制藥,綜合 |
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半導體設備日本理學Rigaku熒光射線分析儀
半導體設備日本理學Rigaku熒光射線分析儀
高通量、高精度分析
憑借高速樣品傳輸系統、高速數據處理以及強大而穩定的X射線，可以比掃描型設備在更短的時間內進行更高精度的測量。
可同時分析多達 40 種元素
最多可測量 40 個元素（標準配置為 30 個）。測量范圍從Be到U。
Simultix15 概述
雙曲面水晶
這是第一臺將雙曲晶體整合到固定光譜儀中的同步熒光X射線光譜儀，比傳統的單曲晶體具有更高的靈敏度。
人造多層累積膜“RX系列”
新開發的人工累積膜“RX85”在Be（鈹）和B（硼）分析方面，與傳統產品相比，靈敏度提高了30%。
衍射 (XRD) 通道
配備衍射通道，可以用一臺裝置進行使用X射線熒光和X射線衍射的定量分析。可對燒結礦中的 FeO（氧化鐵）和水泥熟料中的游離石灰 (f.CaO) 進行定量分析。
自動真空控制機構（APC）
我們采用了高度可靠的真空系統，具有穩定輕元素分析的真空度穩定機構和防止粉末樣品飛散的真空速度切換機構。
自動化兼容
可配備自動樣品交換器（ASC48）。此外，通過連接全自動玻璃珠制造設備和自動壓力成型機等樣品預處理設備，可以實現自動化。
可配備掃描光譜儀
它可以配備可以從O（氧）測量U（鈾）的重元素和輕元素掃描測角儀，或者可以從Ti（鈦）測量U（鈾）的重元素掃描測角儀。對于不常分析的元素的定性分析、半定量分析和定量分析非常有效。
通過定制實現多種測量
?合金化熱浸鋅（GA）鍍層中的Fe含量分析
?鈦酸鋇的高精度摩爾比分析
?水泥熟料中游離石灰的定量分析
?燒結礦中FeO的定量分析
?鐵礦石的定量分析
Simultix15 規格
| 產品名稱 | Simultix15 | |
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| 方法 | 波長色散射線熒光分析 (WDXRF) | |
| 目的 | 固體、粉末和合金的高通量元素分析 | |
| 技術 | 同步波長色散射線熒光分析 (WDXRF) | |
| 主要部件 | 3/4kW端窗式X射線管、自動真空控制機構（APC）、“數字多通道分析儀（D-MCA）” | |
| 選項 | XRD 通道、掃描測角儀、自動進樣器 | |
| 控制（電腦） | 外部 PC、MS Windows® 操作系統、Simultix 軟件 | |
| 機身尺寸 | 880(寬)×1700(高)×1300(深)mm | |
| 體重（身體） | 約700公斤 | |
| 電源 | 三相 200 VAC 50/60 Hz，40 A | |
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