產地類別 | 國產 | 應用領域 | 環保,能源,電子,航天 |
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測試速度 | 測試周期達到 5S/PCS | 高清顯示器 | 42 英寸屏幕 |
max可測面積 | 2000mm×1000mm | 適用工序 | 層壓前、后組件測試 |
上料方式 | 手動 | 相機分辨率 | 2400W |
相機類型 | COMS | 曝光時間 | 1~30S(可調) |
太陽能組件EL測試儀 ZQ100
產品介紹
ZQ 系列缺陷檢測用于晶體硅的缺陷檢測,可人工對缺陷進行標記,保存在本地或遠端數據庫中,PC控制軟件可通過以太網接口實現與客戶系統對接,傳輸測試結果和報警信息, 并可依據客戶需求定制功能。
性能特點
u 操作簡單
采用無蓋設計,無需開蓋合蓋,操作方便,層壓前利于返修檢測
u 模塊化設計
可選配自動化傳輸模組,滿足 0~600W 范圍組件測試
u 半自動化測試
在離線模式時,可加裝滑軌,提高人工測試效率
u 可測缺陷
黑心片、微隱裂、裂片、破洞、斷柵、焊接缺陷等
u 測試圖片
技術指標
設備型號 | ZQ100 |
生產指標 | |
產能 | 5s/pcs(離線典型值) |
MAX可測面積 | 2000mm×1000mm |
適用工序 | 層壓前、后組件測試 |
上料方式 | 手動 |
測量指標 | |
相機分辨率 | 2400W |
相機類型 | COMS |
曝光時間 | 1~30S(可調) |
顯示器 | 2K 42 英寸屏幕(可選配移動支架) |
電源類型 | 可編程電源 |
電壓范圍 | 0~60V 連續可調 |
電流范圍 | 0~20A 連續可調 |
缺陷類型 | 正常檢測:隱裂/碎片/低效率片/燒結網紋/材料缺陷/斷柵 |
圖像處理 | EL 圖像顯示:圖像放大、條碼顯示、缺陷標記 圖像處理:增益、灰度、亮度、對比度調節 | |
電氣指標 | ||
測試接線方式 | 兩線制 | |
軟件功能 | 支持掃碼槍觸發測試,支持測試數據保存、查詢、導出,支持腳 踏觸發,具有過流保護 | |
工作環境 | 溫度:25℃±10℃; 相對濕度:≤85% | |
電源 | AC220V/50Hz/15A | |
設備尺寸 | 2200mm*1800mm*1030mm |