• 類型：光學顯微鏡
• 分辨率：(mm)
• 重量：(kg)
• 裝箱數：(pcs/ctn)
• 調焦范圍：(mm)
• 瞳距范圍：——(mm)
• 電源：——(V)
• 尺寸：**(mm)

  PXS8-Te同軸光體視顯微鏡適用于電子線路板、芯片封裝、珠寶鑒定、研相礦本分析、微小精密零件品質控制、裝配、*、銀行痕跡對比、教學示范、臨床手術樣本、農業選種，紡織品檢驗、養殖業品種優選、病理分析。 PXS8-Te來自美國的品牌，目前國內僅有的高倍立體顯微鏡，我們采用和國外同步的同軸光技術，以滿足對透明封裝后的芯片特殊檢測標準的使用要求。品質優良的光學系統使圖像更明亮，即使長時間觀測眼睛也不會疲勞。粗微動的調焦*應用在高倍體視上，使高倍調焦變得更加精準。多種支架的選配，總能滿足復雜工位的操作要求。還有各種光譜光源的配合，幫助解決碰到的困難。
技術參數：  
鏡筒：雙目，45度傾斜
高眼點大視野目鏡：PLAN10X/20 mm
物鏡：0.9X-7.4X
變倍比：1：8.2
總放大倍數：9-74X
調焦：粗微動調焦，粗動立桿高度300mm，升降范圍105mm
工作距離：102mm

光源:同軸光.