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Genius IF-Genius IF SDD / LE臺式EDXRF光譜儀
【產(chǎn)品簡介】
*的結(jié)構(gòu)結(jié)合了8個二次靶和8個定制的光管濾光片,快速精確地測定微量元素。
*的計數(shù)率和分辨率的硅漂移探測器(SDD),分辨率低至123eV,并有輕元素優(yōu)化探測器可選。
【詳細說明】
Genius IF
SDD / LE
具有二次靶激發(fā)模式的臺式EDXRF光譜儀
Ø 優(yōu)化輕元素檢測
Ø 硅漂移探測器
Ø 定性和定量元素分析
Ø 快速無損分析方法
Ø 微量元素分析
【特點】
- 無損元素分析范圍從C(6)—Fm(100),含量范圍從次PPM—*。
- *的結(jié)構(gòu)結(jié)合了8個二次靶和8個定制的光管濾光片,快速精確地測定微量元素。
- *的計數(shù)率和分辨率的硅漂移探測器(SDD),分辨率低至123eV,并有輕元素優(yōu)化探測器可選。
- 8/16位的樣品盤
- 強大的軟件分析包
Genius IF
Xenemetrix的Genius IF(二次靶)EDXRF光譜儀為目前的元素分析市場提供高性價比的解決方案。
該分析儀可進行無損定性和定量分析,其分析范圍從C(6)—Fm(100),含量范圍從次ppm-*。
Genius IF有著功能強大的組成部分:
- 集成電腦系統(tǒng)。
- 高分辨率硅漂移探測器。
- 高功能X射線光管,檢測光斑尺寸可變,專為適應多尺寸的樣品而設(shè)計。
- 8個二次靶和8個定制的光管濾光片,快速精確地測定微量元素。
Genius IF也可以傳統(tǒng)的直接激發(fā)模式。這個小型的光譜儀可置于傳統(tǒng)的實驗臺上,也適用于移動實驗室—鑒于其堅固的設(shè)計。
同事,它也符合沖擊試驗的MIL 810E規(guī)格。
硅漂移探測器(SDD):高計數(shù)率,高分辨率(低至123eV)和快速的反應時間,大大節(jié)約了操作時間。
SDD LE:超薄探測器窗為低原子序數(shù)元素的分析提供了更*的性能。
重要應用
應用范圍包括分析:
- 石油化工
- 聚合物
- 冶金樣品
- 合金
- 環(huán)境
- 石油,燃料,柴油&液體
- 礦業(yè)和地質(zhì)(含稀土元素)
- 法鑒
- 鑒定&貴金屬
- 藥學與生物醫(yī)學
二次靶
Genius IF有著結(jié)構(gòu),由8個二次靶和8個定制的光管濾管片相結(jié)合,在直接激發(fā)模式中使用,*激發(fā)所有在EDXRF中能檢測的元素。
WAG(廣角結(jié)構(gòu))的二次靶技術(shù)能*地分析大量,少量及微量元素。
X射線管激發(fā)的二次靶(純元素)K特征線,以做到“單色”激發(fā)樣品。
使用二次靶可以*的降低某些元素的檢出限。
極低的檢出限使得Genius IF應用更為廣泛,使其能進入傳統(tǒng)EDXRF無法使用的領(lǐng)域,成為zui多功能元素分析儀。