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| 產地類別 | 進口 | 應用領域 | 化工,生物產業 |
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LN2探測器是美國進口的高性能固態能量色散X射線能譜儀探測器。 SiLi探測器可用于所有應用，也可用于特殊的多元件設計。
低能量響應
LN2探測器提供優異的輕元素X射線響應。 低能x射線在硅中不會滲透很遠，因此大多數事件發生得非常接近晶體的前接觸，其中電荷的分數容易損失。 這可能導致峰值變寬，拖尾甚至能量轉換。 I特殊前接觸技術對于較小化這些影響至關重要，從而獲得了的光譜性能，直到鈹K X射線。
終，在光譜低能量端的X射線檢測器的效率取決于入口窗口的選擇。 IXRF提供全面的檢測器窗口，以適應所有應用。
高能量響應
諸如X射線熒光（XRF）的應用通常在寬范圍的能量下需要良好的光譜響應。 IXRF系統的Si（Li）晶體可根據應用使用不同的有源厚度。 在更高的X射線能量下，更深的晶體更有效。 IXRF的Si（Li）晶體即使在高能量下也保持了優異的背景峰值和低尾部性能。
| SiLi探測器的典型規格 | ||||
| 有效面積（mm2） | 10 | 30 | 50 | 80 |
| 分辨率[MnKa]（eV） | 127 | 133 | 139 | 148 |
| 峰值：背景 | 20000：1 | 20000：1 | 15000：1 | 10000：1 |
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