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臺式掃描電子顯微鏡(Scanning Electron Microscope，SEM)是為客戶提供的歐洲zui高性價比掃描電鏡，*改變了動輒百萬人民幣的電鏡價格，它為用戶提供低價亞微米和納米尺度的電子顯微鏡工具。

臺式掃描電子顯微鏡(Scanning Electron Microscope，SEM)特點：
具有傳統顯微鏡20倍的分辨率，提供高分辨率成像，
非常適合科研人員，工程師獲取高質量的亞微米分辨率圖像，
非常容易使用，用戶接受培訓10分鐘即可獨立操作，
非常適合材料科學，微電子等領域獲取高分辨率圖像。
掃描電子顯微鏡(Scanning Electron Microscope，SEM)參數
放大倍數：24-24000X
圖像分辨率：高達2048x2048像素
空間分辨率：高達30nm
樣品加載：小于30秒
自動樣品控制功能
超低能耗
總重量：55kg


掃描電子顯微鏡(Scanning Electron Microscope，SEM)構成
系統主要部件：成像模塊，17''觸摸屏顯示器，旋轉手柄，真空泵，USB接口驅動
光學放大：固定24X放大
電學放大：120-24000X可調
光學探測：彩色CCD相機
電學探測：高靈敏度背散射探測器
圖像輸出格式：JPEG,TIFF, BMP，
圖像分辨率：456 x 456, 684 x 684, 1024 x 1024 and 2048 x 2048可選
數據存儲：優盤
樣品臺：計算機控制電動XY臺
樣品容納大小：直徑25mm ，高度30mm
樣品加載時間：光學成像<5s , 電學成像<30s
減震桌要求：120x75cm 尺寸以上的減震桌