半導體元件：變?nèi)荻O管的C-VDC特性；晶體管或集成電路的寄生參數(shù)分析

其它元件：印制電路板、繼電器、開關、電纜、電池等的阻抗評估

介質(zhì)材料：塑料、陶瓷和其它材料的介電常數(shù)和損耗角評估

磁性材料：鐵氧體、非晶體和其它磁性材料的導磁率和損耗角評估

半導體材料：半導體材料的介電常數(shù)、導電率和C-V特性

液晶材料：液晶單元的介電常數(shù)、彈性常數(shù)等C-V特性

測試電橋參數(shù) 

測試參數(shù) C, L, R,Z,Y,X,B, G, D, Q, θ,DCR 

測試頻率 20 Hz～2MHz,10mHz步進 

測試信號電 f≤1MHz 10mV～5V,±（10%+10mV） 

平 f>1MHz 10mV～1V,±（20%+10mV) 

輸出阻抗 10Ω, 30Ω, 50Ω, 100Ω 

公司以精美的產(chǎn)品、精良的品質(zhì)、精心的服務贏得了廣大用戶和市場，擁有一大批國內(nèi)外科研院所及企業(yè)用戶。

服務：具有完備的售后服務體系

技術：自主研發(fā)+高校實驗室聯(lián)合開發(fā)

品質(zhì)：對產(chǎn)品的精益追求+嚴格規(guī)范的測試

價格：科學的管理成本+高效率合作降低成本

冠測新款高低頻介電常數(shù)測試儀

測量速度 快速: 200次/s（f﹥30kHz） ,100次/s（f﹥1kHz） 

中速: 25次/s, 慢速: 5次/s

校準功能 開路 / 短路點頻、掃頻清零，負載校準 

等效方式 串聯(lián)方式, 并聯(lián)方式 

量程方式 自動, 保持 

顯示方式 直讀, Δ, Δ% 

觸發(fā)方式 內(nèi)部, 手動, 外部, 總線 

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