16
STT-910 反光膜附著性測定裝置是專為生產、質量監(jiān)督、工程施工和監(jiān)理等單位測量反光膜附著性而設計和生產的。具有結構合理、操作簡單、適用性廣、測量精度高、測量安全及可靠性好等特點。
1.STT-910 反光膜附著性測定器符合我國反光膜技術標準GB/T16311-2005的要求。
2.主要技術指標
鋼錘質量：800 ±3克
鋼錘落差：0.2～0.3 米
3.結構組成
STT-910 反光膜附著性測定器主要由鋼錘、鋼錘掛鉤、反光膜粘貼板、底座和撐桿等組成。
4. 操作步驟
按20毫米×250毫米尺寸裁剪反光膜試樣,將長約100毫米的一端貼在反光膜粘貼板的中央部位,另一端卷成環(huán)狀,為保險起見可用訂書機加強,將反光膜粘貼板貼膜面朝下置于支架槽內,再用鋼錘掛鉤將鋼錘懸掛在反光膜環(huán)行端。待穩(wěn)定后用秒表測量鋼錘懸掛的時間及反光膜的粘貼狀況，記錄測量時間數據，依據標準評判反光膜的附著性。
5. 注意事項
5.1 為了保障測量結果的準確度，在測量前應盡量做好反光膜試樣的準備工作；貼好反光膜；
5.2為了確保測量結果可靠，鋼錘的垂掛應均衡平穩(wěn)；
5.3本儀器知識產權歸本公司所有，嚴禁仿制；否則，本公司將終止履行相關維修義務，并保留法律追究的權利。
5.4對本使用說明書如有疑惑歡迎賜教。
6. 貯存條件
6.1測定器及其附件應存放在干燥、清潔、無振動、無易燃、易腐蝕物品的環(huán)境條件下。
- TESTO/德國德圖
- 其他品牌
- TIME/北京時代
- KIMO/法國凱茂
- FLUKE/福祿克
- RAE/美國華瑞
- KYORITSU/日本共立
- Phase/美國菲思圖
- AND/艾安得
- MEGGER/美國
- New Cosmos/日本新宇宙
- RIKEN/日本理研
- TES/中國臺灣泰仕
- Helmut Fischer/德國菲希爾
- OHAUS/奧豪斯
- SHIMPO/新寶
- Multi/日本萬用
- ELCOMETER/英國易高
- TeKtronix/美國泰克
- ElektroPhysik/德國EPK
- 海創(chuàng)高科
- DeFelsko/美國狄夫斯高
- SIGLENT/鼎陽
- Hitachi/日立
- Kanomax/日本
- 博世
- Faith/費思
- HILTI/德國喜利得
- Proceq/瑞士博勢
- 德國德爾格
- Mettler Toledo/梅特勒托利多
- Bushnell/美國博士能
- Sartorius/賽多利斯
- MarCal/德國馬爾
- FLIR/菲力爾
- SENTRY/中國臺灣先馳
- 香港希瑪
- ROTRONIC/羅卓尼克
- RION/日本理音
- Agilent/安捷倫
- MITUTOYO/日本三豐
- OLYMPUS/奧林巴斯
- DESCO/美國
- 英思科
- Brookfield/博勒飛
- Qnix/德國尼克斯
- INFICON/美國
- OPTEX/奧普士
- BS/百試
- Kleinwachter/德國科納
- HACH/哈希
- Honeywell/霍尼韋爾
- LANDTEK/蘭泰
- KETT/日本
- Motive/中國臺灣
- CENTER/中國臺灣群特
- 泰克
- CEM/香港
- ION/英國離子
- 3nh/三恩時
- 麥科信
- FOERSTER/德國
- MINOLTA/日本柯尼卡美能達
