詳細(xì)介紹
河北性價(jià)比高低溫試驗(yàn)箱
河北性價(jià)比高低溫試驗(yàn)箱
的一款性價(jià)比高低溫試驗(yàn)箱,價(jià)格實(shí)惠,設(shè)備精良,以下是該款高低溫試驗(yàn)箱的詳細(xì)介紹,請參考!
[適用范圍]
用于各種材料的整機(jī)耐干、耐熱、耐濕老化實(shí)驗(yàn)。適合電子、電器、儀表、食品、車輛、金屬、化學(xué)、建材、航天、醫(yī)療……等制品,通過設(shè)定試驗(yàn)室內(nèi)溫度、濕度等參數(shù),提供實(shí)驗(yàn)所需的模擬自然條件,以檢測產(chǎn)品在此環(huán)境的可靠性。
[符合標(biāo)準(zhǔn)]
GB/T 2423.1、2、3、4《電工電子產(chǎn)品基本環(huán)境試驗(yàn)規(guī)程試驗(yàn)A:低溫試驗(yàn)方法,試驗(yàn)B:高溫試驗(yàn)方法,試驗(yàn)Ca:恒定濕熱試驗(yàn)方法,試驗(yàn)Db:交變濕熱試驗(yàn)方法》要求。
GB 10592《高低溫試驗(yàn)箱技術(shù)條件》
GB 10586《濕熱試驗(yàn)箱技術(shù)條件》。
高低溫試驗(yàn)箱,高低溫交變試驗(yàn)箱簡介:
高低溫箱主要用于為測試電工、電子及其他產(chǎn)品材料在高溫、低溫、恒定或變化的溫度環(huán)境中的參數(shù)及性能提供所需的溫度。
1.高低溫試驗(yàn)箱箱體結(jié)構(gòu)特點(diǎn)
造型美觀大方,并采用無反作用把手,操作簡便。
箱體內(nèi)膽采用進(jìn)口高級不銹鋼(SS304)鏡面板,箱體外膽采用A3鋼板噴塑,增加了外觀質(zhì)感和潔凈度。
大型觀測視窗附照明燈保持箱內(nèi)明亮,且利用發(fā)熱體內(nèi)嵌式鋼化玻璃,隨時清晰的觀測箱內(nèi)狀況。
箱體左側(cè)配直徑50mm的測試孔,可供外接測試電源線或信號線使用。
2.高低溫箱控制器
溫度控制采用全進(jìn)口觸摸按鍵式儀表,操作設(shè)定簡單。
資料及試驗(yàn)條件輸入后,控制器具有鎖定功能,避免人為觸摸而改變溫度值。
具有P.I.D自動演算的功能,可將溫度變化條件立即修正,使溫度控制更為精確穩(wěn)定。
可選配打印機(jī)。
3.高低溫試驗(yàn)箱冷凍及風(fēng)路循環(huán)系統(tǒng)
制冷機(jī)采用法國原裝&ldqo;泰康&qot;全封閉壓縮機(jī)。
冷凍系統(tǒng)采用單元或二元式低溫回路系統(tǒng)設(shè)計(jì)。
采用多翼式送風(fēng)機(jī)強(qiáng)力送風(fēng)循環(huán),避免任何死角,可使測試區(qū)域內(nèi)溫度分布均勻。
風(fēng)路循環(huán)出風(fēng)回風(fēng)設(shè)計(jì),風(fēng)壓、風(fēng)速均符合測試標(biāo)準(zhǔn),并可使開門瞬間溫度回穩(wěn)時間快。
高低溫試驗(yàn)箱升溫、降溫、系統(tǒng)*獨(dú)立可提高效率,降低測試成本,增長壽命,減低故障率。
Z系列高低溫箱溫度范圍:-40℃~100℃(150℃)
型號 工作室尺寸(寬×高×深)(mm)
DS-80 400×500×400
DS-150 500×600×500
DS-225 500×750×600
DS-408 600×850×800
DS-1000 1000×1000×1000
主要技術(shù)參數(shù):
1.溫度波動度:&plsmn;0.5℃
2.溫度均勻度:≤2℃
3.升溫速率:3~5℃/min
4.降溫速率:0.7~1℃/min
控制系統(tǒng):
溫度控制采用全進(jìn)口觸摸按鍵式儀表,操作設(shè)定簡單。
資料及試驗(yàn)條件輸入后,控制器具有鎖定功能,避免人為觸摸而改變溫度值。
具有P.I.D自動演算的功能,可將溫度變化條件立即修正,使溫度控制更為精確穩(wěn)定。
電器控制主件采用中國臺灣臺通TT-5166儀表,更好地控制溫度.。
制冷系統(tǒng):
制冷機(jī)采用法國原裝&ldqo;泰康&qot;全封閉壓縮機(jī)。
冷凍系統(tǒng)采用單元或二元式低溫回路系統(tǒng)設(shè)計(jì)。
采用多翼式送風(fēng)機(jī)強(qiáng)力送風(fēng)循環(huán),避免任何死角,可使測試區(qū)域內(nèi)溫度分布均勻。
風(fēng)路循環(huán)出風(fēng)回風(fēng)設(shè)計(jì),風(fēng)壓、風(fēng)速均符合測試標(biāo)準(zhǔn),并可使開門瞬間溫度回穩(wěn)時間快。
升溫、降溫、系統(tǒng)*獨(dú)立可提高效率,降低測試成本,增長壽命,減低故障率。