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變溫霍爾效應實驗儀說明書

2013-9-3  閱讀(932)

提 供 商 北京百萬電子科技中心 資料大小 390.6KB
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【詳細說明】

 

霍爾效應的測量是研究半導體性質的重要實驗方法。利用霍爾系數和電導率的聯合測量,可以用來確定半導體的導電類型和 載流子濃度。通過測量霍爾系數與電導率隨溫度的變化,可以確定半導體的禁帶寬度、雜質電離能及遷移率的溫度系數等基本參數。本儀器采用現代電子技術和計算機數據采集系統,對霍爾樣品在弱場條件下進行變溫霍爾系數和電導率的測量,來確定半導體材料的各種性質。


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