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一、數顯型測量顯微鏡15JE的主要用途和特點
　　　數顯型測量顯微鏡是光學計量儀器之一種，它的結構簡單，操作方便，適用范圍極廣，主要用途如下：

1.直角座標中測定長度，例如測定孔距，基面距離，刻線距離，刻線寬度，鍵槽
　寬度，狹縫寬度，通孔圓直徑等等。

2.轉動度盤測定角度，例如對刻度盤，樣板、量規，鉆孔模板及幾何形狀復雜的零件　進行角度測量。

3.用作觀察顯微鏡，以比較檢查工作表面光潔度，鑒定冶金工業的礦石標本。檢定印　刷照相制版，檢驗紡織纖維等.
　
二、儀器的主要技術指標
　x軸移動測量范圍： 50毫米

y軸移動測量范圍： 13毫米

數顯分辨率： 0.001毫米

測量臺轉動范圍： 不限

測量臺刻度盤分度范圍：　0° - 360°

測量臺刻度盤之分度值： 1°

測量臺刻度盤游標讀數示值： 6’

照明方式：反射光（自然光）

測量精度：儀器值誤差（5+L/15）微米

儀器示值誤差：包括測量誤差與儀器系統誤差。

儀器之主要尺寸： 測量臺與物鏡間之zui大距離：80毫米

測量工作臺直徑： 120毫米

儀器外形尺寸：　 高325*長262*寬220毫米

儀器重量級： 約10.6公斤

顯微鏡目鏡管同棱鏡成為一體繞垂軸旋轉，顯微鏡可由調焦手輪進行上下調焦

注：測量地點溫度變化（20 ± 3）C；L—被測件長度（毫米）
三 、光學參數