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北京慧龍環科環境儀器有限公司
主營產品： 奧立龍水質分析儀,WTW水質分析儀 |
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XD2/3衍射儀
| 參考價 | 面議 |
具體成交價以合同協議為準
- 型號 XD2/3
- 品牌
- 廠商性質 經銷商
- 所在地 北京市
更新時間：2016-09-15 12:41:31瀏覽次數：1470
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XD2/3系列衍射儀
關鍵詞：XD2/3系列衍射儀、XD2/3、系列、慧龍環科
X射線是對晶體物質和材料的組成和原子級結構進行研究和鑒定的分析儀器。XD2/3型X射線粉末具有精度高、準確度高、機械穩定性好、經久耐用、易升級、操作簡便和智能化的特點，能靈活地適應各種行業的測試分析與研究。是目前國內生產制造*θ-θ模式X射線粉末成熟的廠家。XD2/3系列被授予教育部科技成果鑒定推薦產品，國家質量技術監督局認證產品，2007年BCEIA金獎等榮譽。
X射線多晶衍射技術主要應用于多晶物質。世界上的任何物體均是由某些材料構成的，而固體材料中的多數是屬多晶體，非晶體和液體的某些問題，也可用X射線多晶體衍射設備做研究，所以，X射線多晶體衍射應用的領域是很廣泛的，涉及到各行各業。
| 環境保護 | 環境中石棉的定性和定量分析，粉塵和塵埃的定性分析，粉煤灰、爐渣等經各種處理后的結構分析。 |
| 石油化工 | 中油化工中未知物相分析，催化研究中催化劑研制及應用過程中各階段物相組成變化，活性組分變化狀況分析等； X、Y、ZSM、SAPO等各種分子篩的硅鋁比，結晶度，晶胞參數，晶粒大小測定，各類樣品的結構參數測定。 |
| 鋼鐵冶金 | 鋼鐵 鋼鐵的定性分析、殘留奧氏體分析、殘余應力分析、氧化膜和氮化層的分析、各種電鍍和織構的評價。 鑄鐵 鑄鐵中的析出物和鑄造用添加劑的定性分析等。 表面處理鋼 表面處理部位的特性評價、質量管理和殘留應力分析。 |
| 電池材料 | 電池樣品的定性分析，半高寬強度比計算。例如球鎳顆粒的結構特性分析。 |
| 有色金屬 | 銅鋅鋁及其合金和氧化物、氮化物的定性分析，表面處理部位的特性評價、取向分析、應力分析。 |
| 醫藥化妝品 | 醫藥品 藥品原材料的定性分析、雜質的鑒別、晶體的多形態分析和結晶度的測定、通過晶體粒徑的測定進行藥品生產工藝中的質量管理等，如蒙脫石散的測定。 化妝品 化妝品中有害成分的分析，如石棉的測定。 |
| 建筑材料 | 陶器?瓷器?水泥?玻璃 原材料的定性分析，終產品的評價。如熟料和水泥的定性分析、定量分析（純石灰等）。原材料的定性分析、在玻璃表面上形成的薄膜層的定性分析、取向度分析等。 耐火磚 如，硅磚物相分析，其中游離石英的定性定量測定。 |
| 機械制造 | 機械零件表面定性分析、奧氏體的分析、殘留應力的分析。尾氣處理的各種催化劑的定性分析、工具鋼的定性分析、加工整形零件的表面狀態分析、奧氏體層的分析、表面電鍍部位的定性分析、殘留應力分析等。 |
| 煤炭天然氣 | 工業規模的定性分析、碳材料的評價、石油精練工藝中催化劑材料的評價。 |
XD2/3系列特點：
高精度多功能立式測角儀
裝配電機采用20微細分驅動技術，使小步進角度達到0.0005°、2θ測角重復性優于0.0006°。根據分析要求，可以選擇分析常規粉末樣品、塊狀樣品的θ-2θ測角儀，也可以選擇分析從常規粉末樣品、塊狀樣品到超大不規則樣品、粘稠液體樣品的θ-θ測角儀。
裝配電機采用20微細分驅動技術，使小步進角度達到0.0005°、2θ測角重復性優于0.0006°。根據分析要求，可以選擇分析常規粉末樣品、塊狀樣品的θ-2θ測角儀，也可以選擇分析從常規粉末樣品、塊狀樣品到超大不規則樣品、粘稠液體樣品的θ-θ測角儀。
優秀的低角度掃描功能
XD2/3型具有*的低角度掃描功能，常規的低角度掃描角度可從0.5°開始，適用于對薄膜或分子篩樣品的直接測定。
XD2/3型具有*的低角度掃描功能，常規的低角度掃描角度可從0.5°開始，適用于對薄膜或分子篩樣品的直接測定。
軟件齊全
配套的控制獲取軟件、分析軟件齊全，具有強大的可操作、分析功能。
配套的控制獲取軟件、分析軟件齊全，具有強大的可操作、分析功能。
性能穩定
用戶長期使用（8個月），α-石英101衍射角標準偏差優于0.0015°。
用戶長期使用（8個月），α-石英101衍射角標準偏差優于0.0015°。
重視安全結構設計
機柜設計與測角儀光閘采用了連鎖結構，未到位置X射線無法開啟，嚴防X射線泄露。
機柜設計與測角儀光閘采用了連鎖結構，未到位置X射線無法開啟，嚴防X射線泄露。
XD2/3系列技術參數：
| 主機構成 | 項目 | XD-2 | XD-3 |
| X光管 | 種類 | Cu靶，NF型 | |
| 焦斑 | 1.0x10mm2 | ||
| 大輸出 | 2kW | ||
| X射線發生器 | 大輸出 | 3 kW | |
| X光管電壓 | 15～60kV | ||
| 管電壓步寬 | 1kV | ||
| X光管電流 | 6～50mA | ||
| 管電流步寬 | 1mA | ||
| 管電壓、管電流穩定度 | ≤0.01%（電源電壓浮動10%） | ||
| 報警裝置 | kV過低、kV過高、mA過載、水流量、溫度 | ||
| 射線功率保護 | 0.35、0.7、1.0、1.5、2.0、2.7kW六檔 | ||
| 測角儀 | 測角儀掃描半徑 | 180mm | |
| 測樣形式 | 樣品水平運動 | 樣品水平靜止 | |
| 掃描方式 | θs-2θd聯動或θs、2θd單動 | θs -θd聯動或θs、θd單動 | |
| 掃描角度范圍 | -180°～180°（θs） -30°～160°（2θd） | -30°～80° （θs） -30°～160°（θd） | |
| 工作方式 | 連續掃描、定時步進掃描、定數步進掃描 | ||
| 連續掃描速度 | 0.125°～120°/min | ||
| 角度重復性 | 0.0006° | ||
| 測量精度 | 0.001° | ||
| 小步進角度 | 0.00025° | ||
| 發散狹縫（DS） | 0.15°、0.5°、1°、2° | ||
| 防散射狹縫（SS） | 0.5°、1°、2° | ||
| 接收狹縫（RS） | 0.1，0.15，0.30，0.45，0.6，1，2mm | ||
| 調零狹縫 | 0.02mm | ||
| 檢測·計數器 | 檢測器類型 | 閃爍晶體計數器 | |
| 晶體類型 | NaI | ||
| 檢測器噪音 | ≤1cps | ||
| 脈沖幅度分析器（PHA） | 輸出高壓0～1000V，穩定性≤0.01%（8h） | ||
| 機柜 | 機柜尺寸（mm） | 1200（長）×800（寬）×1850（高） | |
| 整機重量（kg） | 500 | ||
| 觀察窗 | 600（高）×400（寬）×10（厚）鉛玻璃 | ||
| X射線泄漏量 | ≤0.1μSv/h（未扣除天然本低） | ||
| 安全措施 | 門連鎖保護（門到位置，光閘才打開，產生X射線） | ||
| 濾波器·單色器 | Ni濾片（對應Cu靶） | 消除連續X射線、熒光X射線及約98%的Kβ特征X射線 | |
| 石墨晶體單色器 | 反射效率η≥28%；消除全部連續X射線、熒光X射線及Kβ特征X射線； | ||
| 整機綜合穩定度 | | ≤0.3％ | |
