XGT-9000X射線顯微分析儀（μXRF）——應對外來物質分析和元素分布檢測的解決方案。

運用強大的“快速分析模式”和“細節分析模式”，對外來物質分析，XGT-9000作為單一一臺儀器即能迅速完成篩查和形狀確認。

1. 外來物質分析的解決方案

快速掃描結合圖像處理的顆粒增強技術讓外來物質分析非常容易。快速分析模式能夠迅速篩查外來物質，細節分析模式進一步確認外來物質的形狀。

2. 快速、清晰、生動的元素分布成像

檢測時間的縮短和低背景元素分布分析成像大幅減少的總的分析時間

3. 光學觀察系統和X射線束*的同軸設計確實保證了精確的微區分析

設計的光學系統具備兩種照明方式—環狀照明和同軸照明。無論是鏡面樣品還是凸凹不平的樣品，通過這兩種照明方式都能進行清晰的觀察。細節攝像機可以調整工作焦距，像印刷電路板這樣具有很大高度差表面的樣品也能清晰地觀察。

4. 多種分析模式

豐富的圖像處理手段能夠幫助獲得精確地元素分布信息。通過多重元素分布像的疊加可以輕松獲得共存元素及多種元素的分布圖像。

5. XGT-9000技術規格