目錄:廈門懿恒電子有限公司>>精密天平>>萬分之一天平>> XP320001L梅特勒高精度天平
產地類別 | 國產 | 價格區間 | 面議 |
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儀器精度 | 萬分之一克 | 儀器量程 | 200-500g |
儀器種類 | 精密天平 | 應用領域 | 綜合 |
梅特勒高精度天平XP320001L產品特點
1.規格 - NewClassic ME 精密天平
2.最大稱量值:120 g - 4200 g
3.秤臺尺寸:? 120 mm & 180x180 mm
4.可讀性:0.001 g - 0.01 g
5.重復性:0.001 g - 0.01 g
6.線性:0.002 g - 0.02 g
7.穩定時間(典型值):1.0 s - 1.5 s
8.靈敏度(溫度漂移):3.0 ppm/°C
9.重量:3.2 kg - 4.6 kg
10.應用:配方稱量、求和稱量、動態稱量、計數稱量、密度稱量、百分比稱量、檢重稱量、統計稱量、自由因子稱量
梅特勒高精度天平XP320001L設計堅固:
1.ME 天平的性能持久。堅固的結構 和高品質材料,確保您可以在未 來的很多年中,始終獲取值得信 賴的精確結果。
2.堅固的金屬機架
3.加固的機身
4.過載保護zui高可達 100kg
XP320001L簡單可靠:
1.較好的稱量技術確保穩定與精確的稱量結果。
2.快速而可靠的結果
3.日期與時間標識 (ISO/GLP)
4.內部校準適用于所有型號
XP320001L操作高效:
1.易于使用的界面可以讓您直接進行各種應用和常規校準。輔以清潔方便的特點,您的日常任務將變得快捷而高效。
2.界面直觀
3.10 種內置應用程序
4.圓弧邊緣和光滑表面確保清潔輕松簡單