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深圳市深東金儀器有限公司
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TAP3500泰克示波器有源探頭
  • TAP3500泰克示波器有源探頭
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貨物所在地:廣東深圳市

地: 美國

更新時間:2024-05-06 08:50:35

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TAP3500泰克示波器有源探頭:
40 k? Input Resistance
–4 V to +4 V Input Dynamic Range
–10 V to +10 VDC Input Offset Range
±30 V (DC + peak AC) Max Input Voltage (Nondestruct)

TAP3500泰克示波器有源探頭的性能特點:www.om600.com/st240071

Features & Benefits

  • Outstanding Electrical Performance
    • High Probe Bandwidth
    • Fast Probe Rise Time
    • Excellent Signal Fidelity
    • ≤0.8 pF Input Capacitance
    • 40 k? Input Resistance
    • –4 V to +4 V Input Dynamic Range
    • –10 V to +10 VDC Input Offset Range
    • ±30 V (DC + peak AC) Max Input Voltage (Nondestruct)
  • Versatile Mechanical Performance
    • Small Compact Probe Head for Probing Small Geometry Circuit Elements
    • DUT Attachment Accessories Enable Connection to SMDs as Small as 0.5 mm Pitch
    • Robust Design for Reliability
  • Easy-to-Use
    • Connects Directly to Oscilloscopes with the TekVPI? Probe Interface
    • Provides Automatic Units Scaling and Readout on the Oscilloscopes Display
    • Easy Access to Oscilloscope Probe Menu Display for Probe Status/Diagnostic Information and to Control Probe DC Offset
    • Remote GPIB/USB Probe Control through the Oscilloscope

Applications

  • Verification, Debug, and Characterization of High-speed Designs
  • Signal Integrity, Jitter, and Timing Analysis
  • Manufacturing Engineering and Test
  • Signals with Voltage Swings up to 8 Vpk-pk

 

Selecting the right probe for your application is key to attaining the best signal fidelity in your measurements. Active probes provide truer signal reproduction and fidelity for high-frequency measurements. With our ultra-low input capacitance and unique interface, the TAP2500 and TAP3500 Single-ended Active FET probes provide excellent high-speed electrical and mechanical performance required for today’s digital system designs.

Specifically designed for use and direct connection to oscilloscopes with the TekVPI? probe interface, the TAP2500 and TAP3500 Active FET probes achieve high-speed signal acquisition and measurement fidelity by solving three traditional problems:

  • Lower DUT loading effects with ≤0.8 pF input capacitance and 40 k? input resistance
  • Versatile DUT connectivity for attaching to small SMDs
  • Preserves instrument bandwidth at the probe tip for up to 3.5 GHz oscilloscopes

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