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數顯介電常數測試儀
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更新時間:2024-08-12 19:29:24瀏覽次數:1142
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BH916測試裝置GDAT高頻Q表
平板電容極片Φ50mm/Φ38mm 可選頻率范圍20KHz-60MHz/200KHz-160MHz
間距可調范圍≥15mm 頻率指示誤差3×10-5±1個字
夾具插頭間距25mm±0.01mm 主電容調節范圍30-500/18-220pF
測微桿分辨率0.001mm 主調電容誤差<1%或1pF
夾具損耗角正切值≦4×10-4 (1MHz) Q測試范圍2~1023
概述
介質損耗和介電常數是各種電瓷、裝置瓷、電容器等陶瓷,還有復合材料等的一項重要的
物理性質,通過測定介質損耗角正切tanδ及介電常數(ε),可進一步了解影響介質損耗
和介電常數的各種因素,為提高材料的性能提供依據;儀器的基本原理是采用高頻諧振法,
并提供了,通用、多用途、多量程的阻抗測試。它以單片計算機作為儀器的控制,測量核心采
用了頻率數字鎖定,標準頻率測試點自動設定,諧振點自動搜索,Q值量程自動轉換,數值
顯示等新技術,改進了調諧回路,使得調諧測試回路的殘余電感減至zui低,并保留了原Q表
中自動穩幅等技術,使得新儀器在使用時更為方便,測量值更為精確。儀器能在較高的測試
頻率條件下,測量高頻電感或諧振回路的Q值,電感器的電感量和分布電容量,電容器的電
容量和損耗角正切值,電工材料的高頻介質損耗,高頻回路有效并聯及串聯電阻,傳輸線的
特性阻抗等。該儀器用于科研機關、學校、工廠等單位對無機非金屬新材料性能的應用研究。
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