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[供應]BQS-37A-高壓電橋介電常數(shù)測試儀Z全的參數(shù)
質損耗測定儀、高壓漏電起痕試驗機、耐電弧等產品,,
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:王巧蕓
- 高壓電橋介電常數(shù)測試儀zui全的參數(shù)概述
1-1電橋簡介:
BQS-37a型高壓電橋是本公司推出的新一代高壓電橋,主要用于測量工業(yè)絕緣材料的介質損耗(tgδ)及介電常數(shù)(ε)。符合GB1409、GB5654及GB/T1693, ASTM D150-1998(2004) 固體電絕緣材料的交流損耗特性及介電常數(shù)的試驗方法其采用了西林電橋的經(jīng)典線路,內附0-2500的數(shù)顯高壓電源及100PF標準電容器,并可按用戶要求擴裝外接標準電容線路。
1-2電橋的特點;
l橋體內附電位跟蹤器及指零儀,外圍接線及少。
l電橋采用接觸電阻小,機械壽命長的十進開關,保證測量的穩(wěn)定性
l儀器具有雙屏蔽,能有效防止外部電磁場的干擾。
l儀器內部電阻及電容元件經(jīng)特殊老化處理,使儀器技術性能穩(wěn)定可靠。
l內附高壓電源精度3%
l內附標準電容損耗﹤0.00005,名義值100pF
- 高壓電橋介電常數(shù)測試儀zui全的參數(shù)技術指標
2-1測量范圍及誤差
本電橋的環(huán)境溫度為20±5℃,相對濕度為30%-80%條件下,應滿足下列表中的技術指示要求。
在Cn=100 pF R4=3183.2(Ω)時
測量項目 | 測量范圍 | 測量誤差 |
電容量Cx | 40pF—20000pF | ±0.5% Cx±2pF |
介損損耗tgδ | 0-1 | ±1.5% tgδx±0.0001 |
在Cn=100 pF R4=318.3(Ω)時
測量項目 | 測量范圍 | 測量誤差 |
電容量Cx | 4pF—2000pF | ±0.5% Cx±3pF |
介損損耗tgδ | 0-0.1 | ±1.5% tgδx±0.0001 |
2-2電橋測量靈敏度
電橋在使用過程中,靈敏度直接影響電橋平穩(wěn)衡的分辨程度,為保證測量準 在下面的計算公式中,用戶可根據(jù)實際情況估算出電橋靈敏度水平,在這個水平上的電容與介質損耗因數(shù)的微小變化都能夠反應出來。
ΔC/C或Δtgδ=Ig/UωCn(1+Rg/R4+Cn/Cx)
式中: U 為測量電壓 伏特 (V)
ω為角頻率2πf=314(50Hz)
Cn標準電容器容量 法拉(F)
Ig通用指零儀的電流5×10-10 安培(A)
Rg平衡指零儀內阻約1500 歐姆(Ω)
R4橋臂R4阻值3183 歐姆(Ω)
Cx被測試品電容值 法拉(pF)
2-3工作電壓說明
在使用中,本電橋頂A,B對V點的電壓zui高不超過11V,R3橋臂各盤的電流不超過下列規(guī)定:
10×1kΩ 1max≤15mA
10×100Ω 1max≤120mA
10×10Ω l max≤150mA
用戶在使用前應注意以上的問題。如不清楚,可根據(jù)實驗電壓及標準電容量,按以下公式來計算出大概的工作電流。
I=ω V C
2-4輔橋的技術特性:
不失真跟蹤電壓0~11V(有效值)
2-5指零裝置的技術特性:
在50Hz時電壓靈敏度不低于1×10-6V/格
電流靈敏度不低于2×10-9 A/格
二次諧波 減不小于25dB
三次諧波 減不小于50dB
- 高壓電橋介電常數(shù)測試儀zui全的參數(shù)電橋工作原理
BQS-37a型高壓電橋采用典型的西林電橋線路。C4橋臂在基本量程時,與R4橋臂并聯(lián),測量數(shù)值為正損耗因數(shù)。結構采用了雙層屏蔽。并通過輔橋的輔助平衡,消除寄生參數(shù)對電橋平衡的影響。輔橋由電位自動電位跟蹤器與內層屏蔽(S)組成。自動跟蹤器由電子元器件組成。它在橋頂B處取一輸入電壓,通過放大后,在內屏蔽(S)產生一個與B電位相等的電壓。當電橋在平衡時,A,B,S三點電位必然相等,從而達到自動跟蹤的目的。本電橋在平衡過程中,輔橋采用自動電位跟蹤,在主橋平衡過程的同時,輔橋也自動跟蹤始終處于平衡的狀態(tài),用戶只要對主橋平衡進行操作就能得到可靠的所需數(shù)據(jù)。同時也有效的抑制了電壓波動對平衡所帶來的影響。在指零部分,采用了指針式電表指示,視覺直觀,分辨清楚,克服了以往振動式檢流計的缺點。
3-1 橋體的組成
電橋各臂的組成
*臂:由被測對象Cx組成Z1。
第二臂:由高壓標準電容器Cn組成Z2。
第三臂:由十進電阻器10×(1000+100+10+1+0.1)歐姆和滑線電阻(0-0.13)歐姆組成Z3。
第四臂:由十進電容臂10×(0.1+0.01+0.001+0.0001)uf和可變電容器100pF組成C4再與電組R4并聯(lián)組成Z4。
3-2計算公式
Cx=R4× Cn / R3 R4[Ω] R3[Ω] Cn[pF] Cx[pF]
tgδ=ω·R4·C4 R4[Ω] C4[F]
當R4=10K/π
tgδ=C4
當R4=1K/π
tgδ=0.1C4
我們采取相對固定R4電阻,分別調節(jié)R3和C4使橋跟平衡,從而測得試品的電容值Cx和介質損耗tg。本電橋為了直讀出損耗值,取電阻R4的阻值為角頻率(f=50Hz)若干倍。
3-3 公式說明
.頻率對介質損耗正公式:
本電橋額定的工作頻率f=50Hz,在實際工作頻率偏離額定頻率時可用修正式進行修正:
tg=f’·tgδ / f
式中:f 為額定工作頻率(f=50Hz)
f’ 為實際工作頻率
tgδ 電橋測得損耗值
tgδ 為被測試品介質損耗角正切的實際值
高壓電橋介電常數(shù)測試儀zui全的參數(shù)安全操作規(guī)程
- 本儀器必須有專人負責保管,使用,非專職操作者應在使用前了解和熟悉本說明書,以免造成不必要的損失和事故。
- 每次使用前應仔細檢查接地線是否完好,確保以后方可通電使用。
- 接通電源前應將靈敏度開關調到zui低位置。
- 測量試品前應先對試品進行高壓試驗,證明在電橋工作電壓下無噪聲,電離等現(xiàn)象出現(xiàn),然后才能進行測試(若試品己做過高壓試驗,該項可不必每次測量都做)。
- 對試品施加高壓時緩慢升高,不可以加突變電壓。
- 測試時操作人員必須集中思想,工作前做好一切準備工作,測試地點周圍應有明顯的標記或金屬屏蔽圍成高壓危險區(qū),以防止非操作人員闖入。
- 在測量過程中,如有放電管發(fā)光時,則必須及時切斷電源,仔細檢查接線及試品都無擊穿,待檢查排除故障后,再進行高壓測量工作。
高壓電橋介電常數(shù)測試儀zui全的參數(shù)操作方法
5.1 測試前的準備工作
①按圖(3)所示,連接標準電容Cn(選用外接標準電容時),與被測電容Cx,并且將標準電容與被測電容盡可能遠離,以防止互相之間干擾。如選用內部標準電容器,只需連接被測試品即可。
②檢查周圍是否有強電磁場干擾,應盡量避免。
③檢查大地線是否牢靠,以保證操作人員的安全,應檢查電橋上的(⊥)與大地是否接觸良好。
④檢查電橋的靈敏度開關是否已回另位。
⑤檢查試品的絕緣強度,應符合大于2U+1的標準。
⑥對試品施加試驗電壓(按部標或所規(guī)定的專業(yè)標準進行)。
5.2 試品的測試
①在不知道被測試品的大概容量及損耗時,可先施加少許的電壓,找到粗平衡點后,再把工作電壓升到所需的值,然后再尋找細平衡點。
②在測量時,靈敏度開關是按從小到大的規(guī)律來調節(jié)的。
③在測量時,R3開關時按從左至右的規(guī)律來調節(jié)的。
④在測量時,C4開關時按從右至左的規(guī)律來調節(jié)的。
⑤整個測量步絮:首先檢查接線無誤后,方可通電試驗。第二升起試驗電壓,并調節(jié)靈敏度開關,使UA表頭有明顯的指示。此時表明電橋沒有平衡。第三調節(jié)R3開關,順序從左至右。這時通過觀察表頭來觀察電橋的平衡狀況。如表頭已回另,可再加大靈敏度。應總保持能明顯地觀察到調節(jié)R3時,電橋的平衡狀況。第四在某一點上用戶會發(fā)現(xiàn),調節(jié)R3已無法使表頭再回到另位。這時可調節(jié)C4開關,順序時從右至左,把表頭指針調節(jié)到zui小位。第五用戶在調節(jié)C4到某一點時又會發(fā)現(xiàn)無法將指針調回另位。這時又要去調節(jié)R3開關,調節(jié)的位數(shù)是上一次調節(jié)R3的zui后位,然后又會出現(xiàn)第四點時的問題,又必須要調節(jié)C4開關...就這樣來回往復地調節(jié)R3和C4兩組開關,直至靈敏度開關zui大時,并指針回另(或指另儀指示到zui小)。表明電橋已達到平衡。
⑥測量完畢后或在暫停測量時,應將另儀的靈敏度開關降至“0”,再將測量電壓降至另并切斷電源開關,根據(jù)計算公式,算出被測試品的容量及介損值。
高壓電橋介電常數(shù)測試儀zui全的參數(shù)裝置成套性
1.BQS-37a型高壓電橋 一臺
2. 試驗電極 一臺
3.使用說明書 一份
4.電源線 二根
5.測試線 三根
北京北廣精儀儀器設備有限公司主要生產電壓擊穿試驗儀、體積表面電阻率測試儀、介電常數(shù)介
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設備損壞后,使用者往往對設備損壞情況描述不清、不全面,經(jīng)常會出現(xiàn)技術人員到達現(xiàn)場之后,發(fā)現(xiàn)工具不全或者零配件需要更換卻沒有提前準備零配件,常常會造成被動或者維修遲緩的局面,耽誤客戶使用。設備返廠維修,廠內零配件及工具齊全,技術人員在維修設備同時,按照公司要求會利用廠內設施為返廠的設備做系統(tǒng)的維護,將一些細微的毛病及早解決。
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關于介電常數(shù)測試儀的其他附加介紹
測試介電常數(shù)的意義:
介電常數(shù)又叫介質常數(shù),介電系數(shù)或電容率,它是表示絕緣能力特性的一個系數(shù),以字母ε表示,單位為法/米 . 它是一個在電的位移和電場強度之間存在的比例常量。這一個常量在自由的空間(一個真空)中是8.85×10的-12次方法拉第/米(F/m)。在其它的材料中,介電系數(shù)可能差別很大,經(jīng)常遠大于真空中的數(shù)值,其符號是eo。 在工程應用中,介電系數(shù)時常在以相對介電系數(shù)的形式被表達,而不是值。如果eo表現(xiàn)自由空間(是,8.85×10的-12次方F/m)的介電系數(shù),而且e是在材料中的介電系數(shù),則這個材料的相對介電系數(shù)(也叫介電常數(shù))由下式給出: ε1=ε / εo=ε×1.13×10的11次方 很多不同的物質的介電常數(shù)超過1。這些物質通常被稱為絕緣體材料,或是絕緣體。普遍使用的絕緣體包括玻璃,紙,云母,各種不同的陶瓷,聚乙烯和特定的金屬氧化物。絕緣體被用于交流電.泡沫塑料用聚苯乙烯、聚氯乙烯、聚氨基甲酸酯等樹脂制成 聚苯乙烯2.4~2.6 ,介電常數(shù)有相對介電常數(shù)和有效介電常數(shù)之分,平時我們說的介電常數(shù)就是相對介電常數(shù),硅的相對介電常數(shù)是11.9 .(AC),聲音電波(AF)和無線電電波(射頻)的電容器和輸電線路。 一個電容板中充入介電常數(shù)為ε的物質后電容變大ε倍。
介質損失角正切值(tgδ)的物理意義。
介質損失角正切值(tgδ)表示電介質在交流電壓下的有功損耗和無功損耗之比,值越大,介質損耗越大,它反映了電介質在交流電壓下的損耗性能。
介質損耗角正切
摘要:電力系統(tǒng)中檢測高壓設備的運行可靠性和發(fā)現(xiàn)電氣絕緣方面缺陷,電介質損耗角的測量*。電介質損耗角是一項反映高壓電氣設備絕緣性能的重要指標。本文介紹了介質損耗角的基本概念和其意義,簡單分析了介質損耗角檢測的方法。
關鍵詞:電介質損耗角;方法;測量;因素
一.引言
1.電介質損耗角研究的意義
電氣設備是組成電力系統(tǒng)的基本元件,是保證供電可靠性的基礎。無論是大型關鍵設備如發(fā)電機、變壓器,還是小型設備如電力電容器、絕緣子等,一旦發(fā)生失效,必將引起局部甚至全部地區(qū)的停電。而導致設備失效的主要原因是其絕緣性能的劣化。絕緣劣化有很多原因,不僅電應力可引起絕緣劣化,導致絕緣故障,而且機械力或熱得作用,或者和電場的共同作用,zui終也會發(fā)展為絕緣性故障。鑒于絕緣故障在電力故障中所占的比重及其后果的嚴重性,電力運行部門歷來十分重視電氣設備的絕緣監(jiān)督。
電介質的電氣特性,主要表現(xiàn)為它們在電場作用下的導電性能、介電性能和電氣強度,它們分別以四個主要參數(shù),即電導率(或絕緣電阻率)、介電常數(shù)、介質損耗角正切和擊穿場強來表示。電介質損耗角是一項反映高壓電氣設備絕緣性能的重要指標。電介質損耗角的變化可反映受潮、劣化變質或絕緣中氣體放電等絕緣缺陷,因此測量介質損耗角是研究絕緣老化特征及在線監(jiān)視絕緣狀況的一項重要內容。而在實際測量中,由于電介質損耗很小,所以需要測量系統(tǒng)有較高的測量精度,這樣才能正確及時地反映電介質損耗的變化。對于電容型絕緣設備,通過對其介質特性的監(jiān)視,可以發(fā)現(xiàn)尚處于早期發(fā)展階段的缺陷。
2.電介質損耗角正切的理論基礎
對電介質施加正弦波電壓,外施電壓與相同頻率的電流之間相角的余角的正切值。其物理理論基礎為tanδ=每個周期內介質損耗的能量/每個周期內介質存儲的能量
1—1 介質在交流電壓的等值電路和向量圖a 示意圖
b 等值電路 c 向量圖
在交流電壓下,流過電介質的電流I包含有功分量IR和無功分量IC,即I=IR+I
由圖1—1可以看出,此時的介質功率損耗P=UIcos=UICtanδ=U2ωCPtanδ (1--1) 式 ω----電源角頻率Φ----功δ
-----介質損耗角。采用介質損耗P作為比較各種絕緣材料損耗特性優(yōu)劣的指標是不合適的,因為P
值得大小與所加電壓U、試品電容量CP、電源頻率ω等一系列因素有關,而式中的
tanδ切是一個僅僅取決于材料損耗特性,而與上述種種因素無關的物理量。正因于此,通常均采用介質損耗角正切tanδ作為綜合反映電介質損耗特性優(yōu)劣的指標,測量和監(jiān)控各種電力設備絕緣的tan
δ值已成為電力系統(tǒng)中絕緣預防性試驗的zui重要項目之一。有損介質更細致的等值電路如圖1—2所示
圖1—2 電介質的三條支路等值電路和向量圖
a 等值電路 b向量圖圖中C1----介質無R2,C2----各種有損極化;R3----電導損耗。
在這個等值電路上加上直流電壓時,電介質中流過的將是電容電流I1、吸收電流I2和傳導電流I3。在電容電流I1在加壓瞬間數(shù)值很大,但迅速下降到零,是一極短暫的充電電流;吸收電流I2則隨著加電壓時間增長而逐漸減小,比充電電流的下降要慢得多,約經(jīng)數(shù)十分鐘才衰減到零,具體時間長短取決于絕緣的類型、不均勻程度和結構;傳導電流I3是*長期存在的電流分量。這三個電流分量加在一起即得出吸收曲線,如圖1—3所示。上述三條支路等值電路可進一步簡化為電阻、
電容的并聯(lián)等值電路或串聯(lián)等值電路。若介質損耗主要由電導所引起,常用并聯(lián)等值電路;
如果介質損耗主由極化所引起,常用串聯(lián)等值電路。
三.等值電路1.并聯(lián)等值電路如果把圖1—2中的電流歸并成由有功電流和無功電流兩部分組成,即可得到圖1—1b示并列電路,圖中CP代表無功電流IC等值電容、R則代表有功電流I
R的等值電阻。其中IR=3+I2R=URIC=1+I2C=UωCP介質損耗角正切tanδ等于有功電流和無功電流的比值,即tanδ=IRIC=URUωCP=1UωCP此時電路的功率損耗為:P=U2R=U2ωCPtanδ可見與式(1--1)所得介質損耗*相同。2.串聯(lián)等值電路用一只理想的無損耗電容CS一個電阻r相串聯(lián)的等值電路來代替,如果1—3a所示。且由如1—3b的向量圖可得:tanδ=IrIω=ωCr由于r=tanδωCS,I=cSωCS=UcosδωCS,所以電路的功率損耗將為:P=2r=(UcosδωCS)2tanδωCS=U2ωCStanδ(cosδ)2
因為介質損耗角δ值很小,cosδ≈1,所以P=U2ωCStanδ由并聯(lián)等值電路和串聯(lián)等值電路可知,串聯(lián)等值電路中的電阻r要比并聯(lián)等值電路中的電阻R小得多圖1—3 電介質的簡化串聯(lián)等值電路及向量a 串聯(lián)等值電路 b 向量
四.介質損耗角正切的測量由于介質的功率損耗P與介質損耗角正切tanδ成正比,所以tanδ
是絕緣品質的重要指標,測量tanδ值是判斷電氣設備的絕緣狀態(tài)的一項靈敏有效方法。tanδ能反映絕緣的整體性缺陷(例如全面老化)和小電容試品中的嚴重局部缺陷。由于tanδ隨電壓而變化的曲線,可判斷絕緣是否受潮、含有氣泡及老化程度。但是測量tanδ不能靈敏地反映大容量發(fā)電機、變壓器和電力電纜絕緣中的局部性缺陷,這是應盡可能將這些設備分解成幾部分,然后分別測量它們的tanδ,tanδ值得測量,zui常用的是高壓交流電橋,即西林電橋法。
液體介電常數(shù)測量儀鑒別危險品
原理分析 物質的檢測分為定量檢測、定性檢測和否定檢測。定量檢測既要判斷被檢測物質包含哪些成分,還要能檢測每種成分的含量,如質譜檢測和各種光譜檢測。定性檢測只要求判定是不是某種物質,如離子遷移譜等。而否定檢測只要給出被檢測物質是否包含某一種或幾種特定成分。這三種檢測方法各有各的特點,定量檢測準確,但是一般檢測時間長;否定檢測為排除性檢測,但是能夠批量快速鑒別,定性檢測介與兩者之間。 在安全檢測領域,采用否定檢測方式可以實現(xiàn)快速預鑒別。如在液體危險品檢測中,通過否定檢測方式,可以快速鑒別液體中是否可能含有危險品。本文基于否定檢測的實際需求,給出一種通過測量微波反射能力,實現(xiàn)快速檢測瓶裝(玻璃、塑料和瓷器)液體是否含有某幾種特定危險品中的一種或幾種。 物質的介電常數(shù)是一種物質與微波相互作用研究中的重要參數(shù),在微波作用下,了解液體介電常數(shù),可以進一步了解其對微波吸收和反射的情況。采用微波發(fā)射裝置發(fā)射微波照射被測液體,發(fā)射能量可以非常低,通過測量液體反射微波能量實現(xiàn)快速鑒別液體中是否含有某幾種特定危險品。 這里采用的微波工作頻率在10GHz左右,屬于厘米波,其特點是遇到障礙物反射能力強,與極性分子的熱化學效應明顯(微波吸收),對塑料、玻璃和陶瓷等材
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