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上海恒平UV2400紫外可見分光光度計(雙光束)

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更新時間:2017-08-23 14:23:37瀏覽次數:377

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產品簡介

產品名稱:上海恒平UV2400紫外可見分光光度計(雙光束) 產品品牌:恒平|舜宇恒平 報價:18000

詳細介紹


產品介紹:

UV2400系列比例監測雙光束紫外-可見分光光度計,采用新型的光學結構及C-T式單色器以及優質的電路系統設計,使儀器具有波長精度高,重復性好,雜散光低及長時間的穩定性和高性價比,可滿足各種層次的分析應用所需,若配上軟件,可與PC連接,實現更多的測試功能包括數據海量存貯。

1 功能

自動扣除比色皿誤差

自動波長:鍵盤輸入zui小間隔為0.1nm。

光度測量:定波長測試透過率、吸光度和系數吸光度及能量的測量。

定量測定:單波長法,1-3階線性標準曲線擬合,zui多可建立9個標樣點的標準曲線。

多波長測定:具有可設5個波長的設定,對同一樣品連續測定。

2 特點

自動八聯池:一次可放7個樣品大大提高測樣分析速度。

自動扣除比色皿誤差:使測光準確度(被測樣濃度較低時)更為準確。

光譜帶寬小:單色光純儀器分辨率高。

超低雜散光:使高濃度樣品測試更準確。

持久的穩定性:比例監測雙光束光路、電路系統,確保儀器長時間的穩定。

顯示及操作:液晶屏顯示器、菜單化工作界面、人性化設計、用戶操作簡單。

燈源更換簡單方便:法蘭盤座式氘燈結構,更換氘燈無需工具,免去換燈時光路調試步驟,使儀器調試、維護更加簡單。

具有USB接口:配上軟件可與PC機相連,擴至多種測試功能(光譜掃描、動力測定等)包括數據的數量貯存。





技術參數:

光學系統: 比例監測雙光束

光譜帶寬: 1.8nm

波長范圍: 190~1100nm

波長zui大允許誤差: ±0.5nm

波長重復性: ≤0.2nm

光度范圍:T:0~200.00%T A:-0.301~4.000Abs

透射比zui大允許誤差:±0.3%T

透射比重復性:≤0.1%T

雜散光:≤0.05%T(220nm、340nm處)

基線平直度:±0.002A

漂移:≤0.001A/h(500nm處)

噪聲:100%(T)線噪聲≤0.1%(T) 0%(T)線噪聲≤0.05%(T)

顯示器:320×240大屏幕LCD(6英寸)

外形尺寸 :540x445x230(mm)


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