詳細(xì)介紹
雷尼紹三坐標(biāo)測針A-5003-4782
TP200 / TP200B測頭本體 TP200采用微應(yīng)變片傳感器,實(shí)現(xiàn)優(yōu)異的重復(fù)性和精確的三維輪廓測量,即使配用長測針時(shí)也不例外。傳感器技術(shù)提供亞微米級(jí)的重復(fù)性,并且消除了機(jī)械結(jié)構(gòu)式測頭存在的各向異性問題。測頭采用成熟的ASIC電子元件,確保了在數(shù)百萬次觸發(fā)中的可靠操作。TP200B采用的技術(shù)與TP200相同,但允許更高的振動(dòng)公差。這有助于克服因坐標(biāo)測量機(jī)傳導(dǎo)振動(dòng)或在移動(dòng)速度很高的情況下使用長測針?biāo)l(fā)的誤觸發(fā)問題。請(qǐng)注意:我們不推薦TP200B配用LF模塊或曲柄/星形測針。
TP200規(guī)格摘要TP200TP200B
主要應(yīng)用需要高精度的數(shù)控坐標(biāo)測量機(jī)。與TP200一樣,但當(dāng)出現(xiàn)誤觸發(fā)事件時(shí)。傳感器方向六軸:±X、±Y、±Z六軸:±X、±Y、±Z單向重復(fù)性 (2s µm)觸發(fā)水平1:0.40 µm觸發(fā)水平2:0.50 µm觸發(fā)水平1:0.40 µm觸發(fā)水平2:0.50 µmXY(2D)輪廓形式測量偏差觸發(fā)水平1:±0.80 µm 觸發(fā)水平2:±0.90 µm觸發(fā)水平1:±1 µm 觸發(fā)水平2:±1.2 µmXYZ (3D) 輪廓測量偏差觸發(fā)水平1:±1 µm 觸發(fā)水平2:±1.40 µm觸發(fā)水平1:±2.50 µm 觸發(fā)水平2:±4 µm測針交換的重復(fù)性SCR200:±0.50 µm(zui大) 手動(dòng):±1 µm(zui大)SCR200:±0.50 µm(zui大) 手動(dòng):±1 µm(zui大)測力(測尖)XY平面(所有模塊):0.02 N Z軸(所有模塊):0.07 NXY平面(所有模塊):0.02 N Z軸(所有模塊):0.07 N超程測力(位移為0.50 mm時(shí))XY平面(SF/EO模塊):0.2 N至0.4 N XY平面(LF模塊):0.1 N至0.15 N Z軸(SF/EO模塊):4.90 N Z軸(LF模塊):1.60 NXY平面(SF/EO模塊):0.2 N至0.4 N XY平面(LF模塊):0.1 N至0.15 N Z軸(SF/EO模塊):4.90 N Z軸(LF模塊):1.60 N重量(測頭傳感器和模塊)22 g22 gzui長加長桿(如配在PH10系列測座上)300 mm300 mm推薦的zui大測針長度(M2測針系列)SF/EO模塊:50 mm鋼質(zhì)至100 mm GFLF模塊:20 mm鋼質(zhì)至50 mm GFSF/EO模塊:50 mm鋼質(zhì)至100 mm GFLF模塊:20 mm鋼質(zhì)至50 mm GF安裝方式M8螺紋M8螺紋適合的接口PI200、UCCPI200、UCC測針模塊交換架自動(dòng):SCR200手動(dòng):MSR1自動(dòng):SCR200 手動(dòng):MSR1測針系列M2M2
TP200測針模塊測針模塊通過高重復(fù)性機(jī)械定位的磁性接頭安裝在TP200/TP200B測頭本體上,具有快速測針交換功能和測頭超程保護(hù)功能。有三種測針模塊可供選擇,具有兩種不同的超程測力。模塊SF(標(biāo)準(zhǔn)測力)LF(低測力)EO(長超程)
應(yīng)用一般使用。小直徑測球或必須使用zui小測力的場合。額外超程使坐標(biāo)測量機(jī)在較高的碰觸速度下安全停止并回退。留言測針zui長可達(dá)100 mm,測球直徑 > 1 mm。測球直徑小于1 mm。與SF的超程測力相同。測頭Z軸的額外超程為8 mm。
SCR200交換架SCR200可對(duì)zui多六個(gè)TP200測針模塊進(jìn)行自動(dòng)高速交換。SCR200由獨(dú)立的測頭接口 —PI200供電,并可確保安全的測針交換。SCR200套件可包含低測力和標(biāo)準(zhǔn)測力組件,每一種套件都包含一個(gè)SCR200加上三個(gè)測力相同的測針模塊。