目錄:江陰韻翔光電技術(shù)有限公司>>光學(xué)成像>>測(cè)試標(biāo)板>> 定標(biāo)鏡臺(tái)測(cè)微分劃板
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更新時(shí)間：2023-12-15 20:19:55瀏覽次數(shù)：2603評(píng)價(jià)
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| 價(jià)格區(qū)間 | 面議 | 應(yīng)用領(lǐng)域 | 醫(yī)療衛(wèi)生,環(huán)保,化工,電子 |
|---|---|---|---|
| 組件類別 | 光學(xué)元件 |
定標(biāo)鏡臺(tái)測(cè)微分劃板
定標(biāo)鏡臺(tái)測(cè)微分劃板有一系列的“H”形基準(zhǔn)圖象，尺寸從0.1到20mm, 采用耐磨的鍍鉻膜層，OD光密度> 2.0，基底材料為25 x 75 x 1.4mm，可用NIST追蹤碼查詢測(cè)試數(shù)據(jù)。
Pattern Length (mm) | Pattern Height (mm) | Line Width (μm) |
0.10, 0.25, 0.50, 0.75 | 0.50 | 10 |
1.00, 2.50, 5.00, 7.50 | 1.00 | 20 |
10.0, 15.0, 20.0 | 3.00 | 40 |
訂購(gòu)信息：
Reticle Calibration Stage Micrometer
庫(kù)存#59-280技術(shù)參數(shù)與相關(guān)資料
尺寸 (mm) | 25 W x 75 L x 1.4 T |
光密度 OD | >2.0 |
Pattern Length (mm) | 0.1 - 20.0 |
基底 | Durable Chromium Coating on Glass |
RoHS | 符合標(biāo)準(zhǔn) |
Reticle Calibration Stage Micrometer, NIST traceable
庫(kù)存#59-281技術(shù)參數(shù)與相關(guān)資料
尺寸 (mm) | 25 W x 75 L x 1.4 T |
光密度 OD | >2.0 |
Pattern Length (mm) | 0.1 - 20.0 |
基底 | Durable Chromium Coating on Glass |
RoHS | 符合標(biāo)準(zhǔn) |
(空格分隔,最多3個(gè),單個(gè)標(biāo)簽最多10個(gè)字符)
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