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從毫米到納米的超大范圍觀察和測量自由切換多種顯微鏡觀察模式
OLYMPUS LEXT OLS4500是結(jié)合了傳統(tǒng)光學(xué)顯微鏡、激光掃描顯微鏡（LSM）以及掃描探針顯微鏡（SPM）功能的一體機(jī)。LEXT OLS4500可以滿足不同樣品的觀測需求，是一臺新時代的觀察、測量裝置。
LEXT OLS4500可以輕松實現(xiàn)從毫米到納米的觀察和測量，放大倍率由幾十倍到高達(dá)百萬倍。找到觀測目標(biāo)（觀察對象）后，您可以在光學(xué)顯微鏡模式、激光顯微鏡模式和探針顯微鏡模式之間自由切換，而不用擔(dān)心目標(biāo)丟失。并且您可以使用探針顯微鏡迅速而正確的完成觀察，大大縮短了獲取影像的時間。這些便是OLS4500一體機(jī)的自由操作帶給您的益處。
更加方便、更加順利地完成超大范圍觀察和測量。
實現(xiàn)了自由切換操作的LEXT OLS4500，閃亮登場。
OLS4500 納米檢測顯微
| ? 光學(xué)顯微鏡的原理和特長 | ? 激光顯微鏡的原理和特長 | ? 探針顯微鏡的原理和特長 |
? OLS4500 納米檢測顯微光學(xué)顯微鏡的原理和特長
光學(xué)顯微鏡是從樣品上方照射可見光（波長約400nm~800nm），利用其反射光成像，能夠放大樣品數(shù)十倍到一千倍左右進(jìn)行觀察。光學(xué)顯微鏡的特長是可以真實觀察彩色樣品，還可以切換觀察方法，強(qiáng)調(diào)樣品表面的凹凸，利用物質(zhì)特性（偏光性）進(jìn)行觀察。OLS4500上可以使用下述觀察方法。
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明視場觀察 可以獲取顏色信息。 | ||||||
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? OLS4500 納米檢測顯微激光顯微鏡的原理和特長
可進(jìn)行亞微米級觀察和測量的激光顯微鏡（LSM: Laser Scanning Microscope)
光學(xué)顯微鏡的平面分辨率很大程度取決于光的光子和波長，采用短波長的激光顯微鏡（LSM） 比采用可見光的傳統(tǒng)顯微鏡，擁有更高的平面分辨率。 LEXT OLS4500采用405nm的短波長半導(dǎo)體激光、高數(shù)值孔徑的物鏡、以及*的共焦光學(xué)系統(tǒng)，可以達(dá)到0.12μm的平面分辨率。此外，OLS4500配有奧林巴斯*的掃描加掃描型2D掃描儀，可以實現(xiàn)高達(dá)4096×4096像素的高精度XY掃描。 |  |
的Z軸測量
| 激光顯微鏡采用短波長半導(dǎo)體激光和*的雙共焦光學(xué)系統(tǒng)，會刪除未聚焦區(qū)域的信號，只將聚焦范圍內(nèi)的反射光檢測為同一高度。同時結(jié)合高精度的光柵讀取能力，可以生成高畫質(zhì)的影像，實現(xiàn)精確的3D測量。 |
高度測量(微透鏡) |
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? 探針顯微鏡的原理和特長
可以觀察納米級微觀世界的探針顯微鏡(SPM: Scanning Probe Microscope)
| 探針顯微鏡（SPM）是通過機(jī)械式地用探針在樣品表面移動，檢測出探針與樣品之間產(chǎn)生的力、電的相互作用，同時進(jìn)行掃描，從而得到樣品影像。探針*曲率半徑為10nm左右。典型的探針顯微鏡是原子力顯微鏡（AFM：Atomic Force Microscope），它通過檢測探針和樣品表面之間作用的引力和張力進(jìn)行掃描并獲得影像。探針顯微鏡能夠觀察納米級微觀形貌，可以捕捉到樣品zui精細(xì)的一面。 |
探針顯微鏡的原理 |
通過微懸臂掃描進(jìn)行納米級觀察 OLS4500上采用了光杠桿法——通過高靈敏度檢測出zui前端裝有探針的微懸臂的微小彎曲量（位移）來進(jìn)行觀測的方法。在懸臂的背面反射激光，并用壓電元件驅(qū)動Z軸，使激光照射到光電檢測器的位置，從而正確讀取Z方向的微小位移。 |  SPM傳感器光路圖 | ||||||||||||||||||
多種觀察模式在影像中呈現(xiàn)表面形狀和物性 探針顯微鏡擁有多種觀察模式，可以觀察、測量樣品表面的形狀，還可以進(jìn)行物性分析。OLS4500配有以下模式。
*該模式為選項功能。 |
高分子薄膜 |
決定高精細(xì)度、高質(zhì)量影像的微懸臂
探針位于長度約100μm~200μm的薄片狀微懸臂的前端。您可以根據(jù)樣品選擇不同的彈簧常數(shù)、共振頻率。反復(fù)掃描會磨損探針，所以請根據(jù)需要定期更換微懸探針。
