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優尼康攜filmetrics膜厚儀F40參加2019BCEIA展會

閱讀:1796          發布時間:2019-11-5

優尼康攜filmetrics膜厚儀F40參加2019BCEIA展會

2019年10月23-26日,第十八屆北京分析測試學術報告會暨展覽會“BCEIA2019”將在北京·國家會議中心隆重開幕,展出國內外500余家參展企業帶來的數千項新的產品和技術,如儀器設備、試劑、軟件和分析測試服務等;

優尼康也秉著相互交流促進發展的目標參加了這次展會。帶來展示的為美國Flmetrics公司的膜厚儀F40(見下圖)

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展會現場圖

進口膜厚測量儀|profilm3d光學輪廓儀|filmetrics測厚儀|優尼康|粗糙度測量儀|臺階儀|測厚儀|橢偏儀|膜厚儀

 

優尼康科技有限公司提供的設備包括膜厚測量;表面輪廓測量;薄膜力學性能測量以及減震消磁系統等多個領域,本次參展由于展位空間限制,未能帶更多的實物展品加入展出,實在遺憾。

 

在4天的參展時間內,優尼康和很多用戶和經銷商進行了成功的交流,也向大家展示和介紹了我們的產品,下一屆BCEIA,我們會攜更豐富的產品和更好的服務等待大家的到來。

 

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