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優尼康科技有限公司>供求商機>CDE DualMap-CDE DualMap 薄膜厚度測量儀測厚儀

貨物所在地：上海上海
產地：美國
更新時間： 2024-10-10 21:00:07
有效期： 2024年10月10日--2025年4月10日
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產品簡介

CDE DualMap 薄膜厚度測量測厚儀，在可靠并受廣受歡迎的ResMap 168 平臺的基礎上，CDE DualMap 集成了一套的光譜膜厚測量系統，從而獲得了高精度的薄膜厚度測量能力。。。。。。

CDE DualMap 薄膜厚度測量

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