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OVS-Micro-透過率測試儀
  • OVS-Micro-透過率測試儀
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貨物所在地:廣東深圳市

地: 深圳

更新時間:2024-07-11 11:16:27

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透過率測試
VS-Micro透過率測試儀簡介:
基于普通透過率測量儀的測試原理,增加顯微光路和成像CCD對測試區域進行準確定位,用小尺寸光斑(0.1mm)測試樣品微小區域的相/透射率。對比傳統目鏡對焦,其采用數字相機視頻對焦更準確,測試速度更快。可調光斑孔徑大小達到了以前沒有的小尺寸,更好的適應了市場上越來越精細的樣品測試。專門用于手機蓋板IR孔、菜單鍵、返回鍵等微小區域的透過率檢測。

透過率測試儀

優點:

l    儀器精密小巧,攜帶方便。

l   測試速度極快,一秒出結果,實現產品全檢。

l  極小樣品的透過率檢測。

l  優異的波長重復性達0.1納米。

l  高精度的光度測定。

l  小化雜散光。

透過率測試儀

軟件特點:

l 智能化軟件操作:可自定義測量方式和角度,實時顯示測量樣品關注波長位置的透/反射率數據,自動調整顯示坐標范圍,高效地進行批量樣品檢測及譜圖對比分析。

      譜圖管理:可同時記錄多達20個樣品譜圖,批量保存測量結果,記錄譜圖測試積分時間,能對譜圖進行更名、定義顏色、選擇是否顯示、加粗等操作,很大程度地方便了譜圖的管理和分析。

l       自定義測量方案:用戶可以自行定義測量的方案,同時設置判定標準,使檢測更快速,結果更準確。

l       譜圖數據處理功能:備有豐富的光學元件數據庫,可根據數據庫已存標準數據對比分析結果,用戶可自行對數據庫進行添加、修改和刪除,還可將測量數據導入Excel有利于進一步對譜圖進行分析和研究。

l       CIE顏色測量功能:可以計算樣品各種CIE顏色參數, x,y,L,a,b,飽和度,主波長等。

l       數據報告打印功能:可快速批量打印樣品測量數據及譜圖,自定義測量報告出具單位名稱。

技術參數:

型號

OVS-Micro(I型)

OVS-Micro(II型)

測量系統

單光束

單光束

探測器

Sony線形CCD 陣列

Hamamatsu背照式2D-CCD

檢出限

0.1%

0.01%

相對檢測誤差

﹤0.6%(410-900nm)

﹤0.4%(410-100nm)

檢測范圍

380-1000nm

360-1100nm

波長重復率

1nm

1nm

信噪比(全信號)

250:1

450:1

樣品測試平臺

X,Y軸可調

光源

鹵素鎢燈

孔徑大小

0.1mm/0.3mm/0.5mm/0.8mm/1.0mm可選

樣品大小

≥ 0.5mm

測量時間

﹤1s

對焦方式

數字相機視頻對焦

物鏡

5X

電源供應器

5V/6W,可調節亮度,燈泡壽命5000小時

操作系統/接口

Windows XP, Windows Vista/ USB2.0

體積/重量

30cm*29cm*35cm/8.5kg

 

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