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篤摯儀器（上海）有限公司
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儀器描述：DELTASCOPEFMP30根據電磁感應（DINENISO2178）原理，用于測量非磁性涂鍍層例如：鉻、銅、鋅、油漆、搪瓷或塑料在鐵基材上的厚度。ISOSCOPEfmp30根據渦流法(DINENISO2360)原理,用于測量油漆或塑料在非磁性金屬基材上的厚度；用于測量鋁基材上陽極氧化層的厚度，也用于測量導電層在非導電基材上的厚度。DUALSCOPEfmp40根據電磁感應（DINENISO2178）和渦流法(DINENISO2360)原理,由于采用了磁感應和電渦流兩種方法，且具有自動識
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MiniTest 2500 / MiniTest 4500測厚儀
插入電池并連接探頭a）從儲物箱中取出量規和電池。b）擰松儀器背面的電池盒螺絲，然后打開電池盒。c）遵循正確的極性，按照供電時間表插入電池。d）關閉電池盒并用螺絲固定后蓋儀器操作步驟按紅色的ON-OFF鍵打開儀器。a）現在將儀器切換到測量模式，可以開始測量了。顯示屏顯示不帶測量值的測量屏幕。b）在初始操作時，測量系列將設置為“直接模式”，并且出廠校準已預設。c）如果測量精度足夠，建議使用工廠預設進行快速簡便的測量。d）要獲取讀數，請將探頭與測量對象成直角放置。涂層要獲取讀數，請將傳感器與測量對象成 -
背景每年因腐蝕造成的經濟損失超過2.5萬億美元”這相當于所有國家國民生產總值的3.4%.腐蝕防護在于保值。因此，腐蝕防護是道路，橋梁，船舶和工廠建設中重要的方面之一。通過Fischer的新MMSInspection系列，我們提供專為重防腐保護而開發的除了設備，用于涂層厚度測量的DFT，用于露點測定的DPM和用于測量表面粗精度的SPG。這些設備具油看抗沖擊，防塵和防水外殼(P65)，符合人體工程學的設計以及由*的防腐專家開發的簡單直觀的操作界面。關于該設備的Z大優勢:根據SSPC-PA2,IMOP
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使用Fischer測厚儀與使用其他儀器一樣，既要掌握儀器性能，也需了解測試條件。使用磁性原理和渦流原理的Fischer測厚儀都是基于被測基體的電、磁特性及與探頭的距離來測量覆層厚度的，所以，被測基體的電磁物理特性與物理尺寸都要影響磁通與電渦流的大小。即影響到測量值的可靠性，下面就這方面的問題作一下介紹。1.邊界間距如果探頭與被測體邊界、孔眼、空腔、其他截面變化處的間距小于規定的邊界間距，由于磁通或渦流載體截面不夠將導致測量誤差。如必須測量該點的覆層厚度，只有預先在相同條件的無覆層表面進行校準，才
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便攜式涂鍍層(覆層)測厚無損檢測方法有：磁性法，渦流法，β射線背散射，微電阻法，XRF-x射線法，重量法，機械量具法。等便攜式涂鍍層(覆層)測厚破壞式檢測方法包括：庫倫法，金相顯微鏡法，溶解法，點滴法，液流法，和輪廓儀法，干涉顯微鏡法等下面就幾種常用的方法進行簡單的介紹：磁感應法原理：※低頻交流勵磁電流產生低頻磁場，磁通量密度由測量探頭和鐵磁性基材之間的距離決定。※通過采集線圈產生探頭輸出信號，經儀器根據探頭特征以及匹配的數學變換模型轉化為涂鍍層厚度。當測頭與覆層接觸時，測頭和磁性金屬基體構成一
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COULOSCOPE®儀器的標準功能：?73種存儲標準測量應用程序，適用于大多數金屬涂層?14個存儲的標準測量應用程序，用于測量導線上的涂層厚度?2個存儲的用于STEP-Test測量的標準測量應用程序（僅適用于CMS儀器型號）。如果您的特定材料組合無法使用標準的測量應用程序，則可以定義特別適合您的特定情況的特殊測量應用程序。應用程序是存儲測量應用程序特定參數（例如標準或特殊測量應用程序，校準系數，測量單位等）和測量數據的存儲器區域。可以復制，編輯和刪除應用程序。標準測量應用和電解質共有89種標準
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以下概述簡要介紹了各個控制面板按鍵的功能：按鍵詳細功能介紹DEL刪除后測量的讀數重復按DEL：連續刪除打開的塊的讀數。2xDEL：刪除所有讀數..在規范化期間：1xDEL-刪除后一個讀數，2xDEL-刪除基礎材料的測量系列..在校準期間：1xDEL-刪除后一個讀數，2xDEL-刪除當前校準標準的測量系列。重復按DEL：刪除先前校準標準的測量系列（從第101頁開始）。..在所有菜單中：DEL-返回上一級菜單或取消操作FINAL-RES檢索終結果重復按FINAL-RES：連續顯示終結果的各個組成部分
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FMP10和 DUALSCOPE FMP20測厚儀簡易操作手冊
DELTASCOPE®FMP10,ISOSCOPE®FMP10和DUALSCOPE®FMP20簡易操作手冊*篤摯儀器（上海）有限公司：一一DELTASCOPEFMP10根據電磁感應（DINENISO2178）原理，用于測量非磁性涂鍍層例如：鉻、銅、鋅、油漆、搪瓷或塑料在鐵基材上的厚度。一一ISOSCOPEFMP10根據渦流法(DINENISO2360)原理用于測量油漆或塑料在非磁性金屬基材上的厚度；用于測量鋁基材上陽極氧化層的厚度，也用于測量導電層在非導電基材上的厚度。一一DUALSCOPEFM
