本低壓熔斷器觸頭性能測試臺*國家標(biāo)準(zhǔn)IEC60269-1：2009、GB13539.1-2015（低壓熔斷器第1部分：基本要求） 標(biāo)準(zhǔn)中第8.10章節(jié)“觸頭不變壞驗證”的試驗要求，用于模擬熔斷器在嚴酷使用條件下，驗證長期運行中不受擾動的觸頭性能損壞情況。

主要技術(shù)參數(shù)：

1. 設(shè)備輸出電壓：0~690V；

2. 設(shè)備輸出電流：0~5000A；

3. 通電時間：1~9999s；

4. 斷電時間：1~9999s；

5. 試驗樣品：3組；

6. 試驗循環(huán)次數(shù)：1-800次可設(shè)置；

........

設(shè)備滿足標(biāo)準(zhǔn)：

低壓熔斷器觸頭性能測試臺*國家標(biāo)準(zhǔn)IEC60269-1：2009、GB13539.1-2015（低壓熔斷器第1部分：基本要求） 標(biāo)準(zhǔn)中第8.10章節(jié)“觸頭不變壞驗證”的試驗要求。