西門子物位計的測量
對于液面相對平穩的罐體，且被測液體的介電常數較高，可以選擇普通雷達物位計。對于液面波動大、或帶有攪拌的罐體，或被測液體的介電常數較低，應優選導波雷達。

因為導波管對液面有整型作用，且導波雷達的微波反射不易受環境條件變化的影響。被測液體的介電常數和密度變化對測量結果沒有影響。對于被測液體的粘度≥500cst，且液體粘附性較強的情況，不能選擇導波管方式測量，因為粘附和結晶會堵死導波管。

從而形成虛假物位。可以選擇導波桿方式來測量。當介質在探頭上的涂污對測量物位的影響可分為兩種：膜狀涂污和橋接。膜狀涂污是在物位降低時，高粘液體或輕油漿在探頭上形成的一種覆蓋層。由于這種涂污在探頭上涂層均勻，因此對測量基本無影響；

但橋接性涂污的形成卻能導致明顯的測量誤差，當塊狀或條狀介質污垢粘結于波導體上或橋接于兩個波導體之間時，就會在該點測得虛假物位。

西門子物位計的基本設定
1)根據物位計測量儲罐的形狀，設定儲罐特性。
2)根據檢測介質的特性設定介電常數。
3)在過程條件一項選擇所測介質的過程變化情況，如果是桿式的雷達物位計，還應該設定探頭底部的接觸情況。
4)接下來按照工藝要求設定物位計的空標和滿標值，如果是導波管的還應該設定導波管的直徑。
5)根據設定的空標值做全程抑制。

西門子物位計部分型號如下：

SIEMENS PI組 液位計 7ML1127-0BA50
SIEMENS PI組 物位計 7ML1510-2CB04

SIEMENS PI組 雷達液位計7ML5427-0CL00-0AA1
SIEMENS PI組 英文說明書7ML1998-5JM02
SIEMENS PI組 英文說明書 7ML1998-5KE01

7ML54400AA000AA1 
7ML54400AA000AB1

7ML54400AA001AA1
7ML54400AA001AA2 
7ML54400AA001AB1
7ML54400AA001AB2

7ML54400AB000AC1
7ML54400AB000AC2
7ML54400AB001AA1

7ML54400AB001AC2
7ML54400BA000AA1