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| 產地類別 | 國產 | 產品種類 | 分光測色儀 |
|---|---|---|---|
| 光譜范圍 | 400-700nm | 光學結構 | d/8度積分球 |
| 光源 | LED | 價格區間 | 面議 |
| 儀器類型 | 臺式 | 應用領域 | 文體,印刷包裝,紡織皮革,制藥 |
測量光源：CLEDs（全波段均衡LED光源）
測量條件：反射：D/8（漫射受光/8?照明）；透射：D/0（漫射照明，垂直方向接收）
測量口徑：4種測試口徑
光譜范圍：400nm~700nm
測量時間：2s
◆：4種測試口徑、雙光路光譜分析
◆：反射、透射測量
產品簡介
詳細介紹
彩譜CS-820臺式分光測色儀兼容透射反射測量
臺式分光測色儀CS-820具有優秀的臺間差、準確性及復現性。無論是顏色品質管理還是配色工作，CS-820都能輕松應對。
一、儀器介紹
1、透射D/0結構和反射的D/8結構
2、雙光路光譜分析技術
能同時獲取測量樣品和機內環境參考兩種數據，確保儀器測量的準確性和長期穩定性
3、兼容SCI/SCE測量
采用照明委員會推薦的D/8照明觀測條件，滿足各個行業測量需求；能進行含鏡面反射（SCI）和除鏡面反射（SCE）測量，更充分地洞察顏色數據變化。
4、4種測試口徑
簡單方便地調整測試口徑大小，大測量口徑可達25.4mm，滿足各種尺寸樣品的測量需求。CS-820不僅能測量不透明樣品的顏色數據，還可以方便測量透明、半透明樣品的透過率和 “濁度”。
5、可單機操作，超大屏幕顯示
不需要連接電腦即可完成測量，大屏顯示器能直接觀察測量結果、方便地設置儀器狀態。可配套使用色彩品管軟件或配色軟件(Color Match)。
8、*的校準白板設計
方便準確的將校準白板固定于測試口上，保證了白校準的準確性，為高精度測量提供保障。
9、靈活的測試夾具
可將不同厚度，不同尺寸的樣品緊密的固定在測試口上，防止雜散光進入影響測量結果的準確性。
10、儀器細節展示
二、參數規格
型號 | CS-820 |
測量條件 | 反射：d/8（漫射照明，8°方向接收） |
積分球 | 15.2cm，Avian-D全漫反射表面涂層 |
照明光源 | CLEDs(全波段均衡Led光源） |
傳感器 | 雙光路陣列傳感器 |
光譜范圍 | 400nm-700nm |
波長間隔 | 10nm |
帶通濾波器 | 5nm |
光度測定范圍 | 0%-200% |
分辨率 | 反射率0.01% |
觀察角 | 2°/10° |
光源 | A,C,D50,D55,D65,D75,F1,F2,F3,F4,F5,F6,F7,F8,F9,F10,F11,F12,DLF,TL83,TL84,NBF,U30,CWF |
顯示內容 | 光譜圖/數據，樣品色度值，色差值，合格/不合格結果，顏色偏向，歷史數據色彩，手動輸入標準樣，生成檢測報告 |
測量時間 | 約2s |
反射測量孔徑 | 大孔徑 (LAV)：2.54 厘米（1 英寸） |
中孔徑 (MAV)：1.5 厘米（0.6 英寸） | |
小孔徑 (SAV)：0.75厘米x 1.0厘米（0.3英寸x 0.4英寸） | |
超小孔徑 (VSAV)：0.3厘米x 0.8厘米（0.12英寸x 0.31英寸） | |
顏色空間 | CIE Lab, LCh, CIE_Luv,XYZ,Yxy,反射率, Hunterlab, Munsell MI,CMYK, RGB，HSB |
色差公式 | ΔE*ab,ΔE*CH,ΔE*uv,ΔE*cmc(2:1),ΔE*cmc(1:1),ΔE*94,ΔE*00,ΔEab(Hunter),555色調分類 |
其他參數 | WI(ASTM E313-00,ASTM E313-73，CIE/ISO,AATCC,Hunter,Taube,Berger Stensby)，YI(ASTM D1925，ASTM E313-00,ASTM E313-73),Tint(ASTM E313-00),同色異譜指數Milm，沾色牢度，變色牢度，ISO亮度，A密度，T密度,E密度，M密度， |
重復精度 | 標準偏差在0.08%以內 |
臺間差 | ΔE*ab 0.2以內（BCRA系列Ⅱ 12塊色板測量平均值） |
溫度（操作） | 15? C - 32? C (60? F – 90? F) |
相對濕度（操作） | 0~45℃，相對濕度80%或更低（在 35°C下），無水氣凝結 |
電源 | 117-230VAC/50-60Hz |
接口 | USB |
外形尺寸 | 583*330*304mm（長*寬*高） |
附件 | 電源線、顏色管理軟件、驅動軟件、數據線、黑白校正筒、40*10比色皿、比色皿座、4種測量口徑、計量檢測報告 |
可選配件 | 40*40比色皿 |
三、應用領域
彩譜CS-820臺式分光測色儀兼容透射反射測量
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