EDX（Energy Dispersive Spectrometry）即能量色散 X 射線熒光光譜分析儀采用的 X 射線熒光光譜分析原理。X 射線熒光分析原理：當樣品中元素的原子收到高能 X 射線照射時，即發射出具有一定波長的特征 X 射譜線。特征譜線的波長與元素的原子序數（Z）有關，而與激發 X 射線的能量無關。所以測定譜線的波長，就可知道試樣中含有什么元素（即定性分析）；測量譜線的強度，就可知該元素的具體含量（即定量分析）。儀器工作原理：儀器高壓電源給光管提供管壓和管流，光管激發出連續的 X射線熒光光譜線（即原級 X 射線），原級 X 射線照射到樣品上，樣品產生具有樣品特征的 X 熒光譜線，經過探測器后變成電壓信號，信號經過放大和數據采集后傳送給計算機，經軟件處理后終獲樣品的測量結果。

江蘇天瑞儀器股份有限公司是一家從事分析測試儀器研發、生產、銷售的guo ji化高科技企業，產品主要包括光譜、色譜、質譜等。針對 EDX 2000A 在鍍層等廣泛應用，根據優化產品性能和提高需求，特別設計該款 EDX 2000A。該款儀器聚焦效果好，自動化的 X 軸 Y 軸 Z軸的聯動裝置，實現對平面、凹凸、臺階、弧面等各種形態的樣品進行快速對焦，分析。

產品名稱：X射線鍍層測厚儀

產品型號：EDX2000A

（1）外形尺寸：485（W）×588（D）×505（H）mm

樣品腔尺寸：430（W）×400（D）×140（H）mm

（2）重量 60kg

（3）X 射線源：

X 射線管：W 靶材

X 射線管電壓： 5——50KV，可調

X 射線管電流: 50uA——1mA，可調

X 射線管制冷： 密閉型風冷

（4）準直系統：標配￠0.3mm(可根據要求選配)

（5）濾光片：Al 濾光片(可根據要求選配)

（6）X 射線檢測： FSDD 探測器

（7）樣品觀測配置

樣品照明： LED 燈，上方垂直環繞照射

觀察：彩色 CCD 變焦工業攝像頭

倍率：15-25 倍

視野：6 X 4.8mm

變焦：0-40mm

（8）Z 軸調節：圖像識別功能7高度激光對焦

（9）電動 XY 高jing度移動平臺

樣品臺尺寸： 320（W）× 265（D）mm

移動范圍：100mm(X) × 100mm(Y)

分辨率：5um

重復定位jing度： ＜10um

步進電機步距角： 1.8°

載重量：3 kg（無傾斜）

（10）Z 軸升降平臺：

升降幅度范圍：0—140mm

（11）an quan bao hu 操作人員在未關高壓的情況下打開屏蔽罩儀器會自動斷高壓。

（12）數據采集4096 道細分數據采集

（13）X 射線管工作情況監測系統軟件畫面顯示當前的管壓，管流，元素峰通道，記數率等。

  (14) 電源：電源輸入：AC220±10%，5A，50/60HZ

特別性能

? 上照式：各種形狀樣品都可測試

? 高分辨率探頭：提高分析的性

?  an quan 性：新一代光管良好的屏蔽作用，X 射線的輻射基本為 0；儀器上蓋的測試自鎖和高壓電源緊急鎖功能

? 測試組件可升降，激光測距系統，滿足不同高度樣品的非接觸式測試

? gao jing 度移動平臺，支持智能定位測試，多點測試和網格測試模式

? 較小準直器

? 可視化操作

? 智能的 Fp 測試軟件，不需要標準樣品，即可以實現多種制程的測試

? 相互du li 的基體效應校正模型

? 一鍵測試按鈕

? 鼠標定位測試點

? 大樣品腔設計

? 測試口an quan fang hu 

? 智能防撞系統

技術指標

? 元素分析范圍從鋁(Al)到鈾(U)

? 可同時分析 24 個元素，5 層鍍層

? 儀器檢出限：0.005um

? 鍍層厚鍍范圍：0.005um—50um

? 多次測量重復性: 2%

? 工作穩定度為 3%

（注：多次重復性實驗和穩定性實驗是在準直器?0.5mm 的條件下測試的，除小于0.1um 較薄鍍層大多數情況下 man zu 以上標準，RSD 為相對標準偏差）

應用領域:

? 金屬鍍層的電鍍、化鍍、熱鍍等鍍層厚度分析測量

? 金屬表面陽極氧化等涂覆層厚度測試

? 電鍍液成分測試合、金鍍層成分及厚度分析

? 首飾定性半定量分析以及鍍層厚度分析和檢測機構、電鍍行業