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無鹵檢測儀目前XRF在氯的測試結果判定方面沒有一個專門的標準來執行,而鹵素標準與rohs標準之間有很大的關聯,執行rohs標準的時候對結果的判定是參考IEC62321文件來執行的,所以目前大部分XRF廠商對于Cl的結果的判定也是參考IEC62321文件執行,以下節選自IEC62321文件里面各元素的檢測結果的判斷方法。
無鹵檢測儀各種類型的XRF光譜儀單獨使用,分析方法允許使用者把樣品歸納為以下三類的其中一類:
a) “合格”- 如果對所有的元素定量分析的結果全部小于表2所列的低限值,樣品經過測試為合格。
b) “不合格”- 如全部高于表2所列的高限值,樣品經過測試為不合格。
c) “未決定”- 如果對Hg、Pb或者Cd其中任何一種的元素定量分析的結果處于中間區域或者元素Br和Cr的結果高于表2所列的高限值,分析結果為未做決定。還必須要進行進一步的研究。這個檢測是“未決定”。
表2:各種基材中受限元素的篩選限值,單位(mg/kg)
元素 聚合物材料 金屬材料 電子元件
Cd P≤(70-3σ)<X <(130+3σ)≤F P≤(70-3σ)<X <(130+3σ)≤F LOD≤X <(250+3σ)≤F
Pb P≤(700-3σ)<X <(1300+3σ)≤F P≤(700-3σ)<X <(1300+3σ)≤F P≤(500-3σ)<X <(1500+3σ)≤F
Hg P≤(700-3σ)<X <(1300+3σ)≤F P≤(700-3σ)<X <(1300+3σ)≤F P≤(500-3σ)<X <(500+3σ)≤F
Br P≤(300-3σ)<X
P≤(250-3σ)<X
Cr P≤(700-3σ)<X P≤(700-3σ)<X P≤(500-3σ)<X
篩選限值已列于表2中。普通法定的對受關注物質的限值已經受到了相關的評估,但對此方法“執行的水平”已經為篩選過程定了容許30%(50%對于電子元件)安全極限值的偏差,這樣合格(P)或者不合格(F)的決定將會分別設定為少于和多于30%(50對于電子元件)的法定限值。極限值得到了很多做實驗的和工廠的實踐人員的贊同。“X”符號表示這樣一個區域,在這個區域中的數值還需要進一步的研究。
因此天瑞公司對于Cl元素的結果的判斷也是參考此文件得出如下的判斷方法。
元素 聚合物材料 金屬材料 電子元件
Cl P≤(70-3σ)<X <(130+3σ)≤F
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