x射線電鍍測(cè)厚儀 

參數(shù)規(guī)格

1.X射線電鍍測(cè)厚儀精密的三維移動(dòng)平臺(tái) 
2.的樣品觀測(cè)系統(tǒng) 
3.的圖像識(shí)別 
4.輕松實(shí)現(xiàn)深槽樣品的檢測(cè) 
5.四種微孔聚焦準(zhǔn)直器，自動(dòng)切換 
6.雙重保護(hù)措施，實(shí)現(xiàn)無(wú)縫防撞 
7.采用大面積高分辨率探測(cè)器，有效降低檢出限，提高測(cè)試精度 
全自動(dòng)智能控制方式，一鍵式操作!
開機(jī)自動(dòng)自檢、復(fù)位； 
開蓋自動(dòng)退出樣品臺(tái)，升起Z軸測(cè)試平臺(tái)，方便放樣； 
關(guān)蓋推進(jìn)樣品臺(tái)，下降Z軸測(cè)試平臺(tái)并自動(dòng)完成對(duì)焦； 
直接全景或局部景圖像選取測(cè)試點(diǎn)； 
軟件界面測(cè)試按鈕，自動(dòng)完成測(cè)試并顯示結(jié)果。 
分析元素范圍：硫（S）～鈾（U） 
同時(shí)檢測(cè)元素：*多24個(gè)元素，多達(dá)5層鍍層
分析含量：一般為2ppm到99.9% 
鍍層厚度：一般在50μm以內(nèi)（每種材料有所不同）
SDD探測(cè)器：分辨率低135eV
的微孔準(zhǔn)直技術(shù)：*小孔徑達(dá)0.1mm,*小光斑達(dá)0.1mm
樣品觀察：配備全景和局部?jī)蓚€(gè)工業(yè)高清攝像頭 
準(zhǔn)直器：0.3×0.05mm、Ф0.1mm、Ф0.2mm與Ф0.3mm四種準(zhǔn)直器組合 
儀器尺寸：690（W）x 575（D）x 660（H）mm
X射線電鍍測(cè)厚儀樣品室尺寸：520（W）x 395（D）x150（H）mm
樣品臺(tái)尺寸：393（W）x 258 （D）mm
X/Y/Z平臺(tái)移動(dòng)速度：額定速度200mm/s 速度333.3mm/s
X/Y/Z平臺(tái)重復(fù)定位精度：小于0.1um
操作環(huán)境濕度：≤90%
操作環(huán)境溫度：15℃～30℃

x射線電鍍測(cè)厚儀 產(chǎn)品簡(jiǎn)介

怎么測(cè)量五金電鍍層厚度對(duì)產(chǎn)品質(zhì)量以及成本控制非常重要，天瑞儀器thick8000X射線電鍍測(cè)厚儀是一款自動(dòng)化程度很高的儀器，采用三維移動(dòng)平臺(tái)和上照式方式，可以達(dá)到產(chǎn)品間測(cè)量。
五金電鍍測(cè)厚常見的有：鍍鋅、鍍銅、鍍鎳、鍍金、鍍銀、鍍錫、鍍銠、鍍鈀以及合金電鍍。可以是單層電鍍，也可以是多層電鍍。

配件

管壓：5-50kV
管流：0-1mA
靶材：W靶或RH靶
窗口：鈹窗
制冷方式：風(fēng)冷

訂購(gòu)說(shuō)明

片面追求度  每當(dāng)談到儀器性能，往往會(huì)自然而然地把結(jié)果是否作為判斷標(biāo)準(zhǔn)，而且在日常應(yīng)用中也會(huì)把的精力用于判斷儀器“準(zhǔn)不準(zhǔn)”，*常見的就是與化學(xué)分析“對(duì)結(jié)果”。性固然重要，但作為工業(yè)分析而言，精密度決不可忽視，先要關(guān)注的是精密度問題，也就是說(shuō)，同一樣品多次測(cè)量，其結(jié)果應(yīng)有良好的*性，每一測(cè)量結(jié)果與均值的差要足夠小，于測(cè)量值與真值的差，往往屬于系統(tǒng)偏差，是可以進(jìn)行數(shù)學(xué)校正的。
不重視穩(wěn)定性和重現(xiàn)性 所謂穩(wěn)定性是指同一樣品連續(xù)測(cè)量多次（通常為21次）的標(biāo)準(zhǔn)偏差，而重現(xiàn)性則是同一樣品間隔較長(zhǎng)時(shí)間后再次測(cè)量的結(jié)果之間的*性。這兩項(xiàng)指標(biāo)是作為工業(yè)分析儀器的關(guān)鍵指標(biāo)，工業(yè)分析的結(jié)果主要是用于生產(chǎn)過(guò)程的控制和參數(shù)調(diào)整，分析結(jié)果的相對(duì)變化直接關(guān)系著過(guò)程控制和調(diào)節(jié)。而相對(duì)變化的測(cè)量是建立在穩(wěn)定性和重復(fù)性之上的。
分析時(shí)間越短越好  X射線測(cè)量是隨機(jī)事件的統(tǒng)計(jì)測(cè)量，是由統(tǒng)計(jì)規(guī)律決定的，計(jì)數(shù)的量取決于測(cè)量時(shí)間，并直接決定著測(cè)量誤差的大小，足夠長(zhǎng)的測(cè)量時(shí)間是測(cè)量精度的前提條件，為了測(cè)量精度，必須有足夠的測(cè)量時(shí)間。