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日立冷場發射掃描電鏡

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參考價5000000-7000000
具體成交價以合同協議為準
  • 型號

    SU8600
  • 品牌

    Hitachi/日立
  • 廠商性質

    經銷商
  • 所在地

    上海市

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更新時間:2024-08-15 19:26:36瀏覽次數:858

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產品簡介

產地類別 進口 價格區間 500萬-700萬
儀器種類 冷場發射 應用領域 綜合
FE-SEM獲得的圖像分辨率高,信息豐富,樣品處理相對簡單,并且它可以觀察、測量并分析樣品的細微結構,因此被廣泛應用于納米技術、半導體、電子器件、生命科學、材料等領域。近年來,以Materials Integration為代表,其應用領域及用途在不斷擴展,短時間內獲取大量數據,減輕作業負荷成為市場的一大需求。

詳細介紹

為滿足這一需求,此次特推出的日立冷場發射掃描電鏡SU8600系列秉承了Regulus8200系列的高質量圖像、大束流分析及長時間穩定運行的冷場成像技術,同時還大大提升了高通量、自動數據獲取能力。

 

在細微結構分析中,日立冷場發射掃描電鏡SU8600可以實現低加速電壓觀察,對高分子等易受電子束照射影響的材料進行高分辨觀察。該系列產品的特點如下:

1.支持自動獲取數據

在FE-SEM的觀察和分析中,需要根據測量樣品與需求調整觀察條件。調整所需時間的長短取決于用戶的操作熟練度,這是造成數據質量與效率差異的因素之一。此系列產品標配自動調整功能,可避免人為操作導致的差異。

此外,隨著儀器性能的提升,需要獲取的數據種類與數量也在增加,手動獲取各種大量數據會大大增加用戶的作業負擔。此系列產品可選配“EM Flow Creator",用戶可根據自身需求設定條件,自動獲取數據,這對于未來通過獲取大量數據實現數據驅動開發起到重要作用。

2.增加獲取信息的種類與數量

通過SEM能夠收集到多種信號,且此系列產品最多可以同時顯示和存儲6個檢測器的信號。在減少圖像獲取次數的同時能夠獲取多種信息。

此外,為一次性獲取大量信息,像素擴展到了40,960 x 30,720(選配),是之前型號的64倍。利用這一功能,可憑借一張數據圖像有效評估多處局部的細微結構。

3.增強信號檢測能力

SU8600開發了多個新型選配檢測器,加強了對凹凸信息、發光信息的檢測能力。此外,還提高了背散射電子信號檢測的響應速度。

 

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