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上海遂歐儀器有限公司

MB2S探頭

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訂  貨  量: ≥1 件

具體成交價(jià)以合同協(xié)議為準(zhǔn)

產(chǎn)品型號(hào)

品牌貝克休斯

廠商性質(zhì)代理商

所在地上海市

更新時(shí)間:2024-07-08 11:10:36瀏覽次數(shù):737次

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產(chǎn)地類(lèi)別 進(jìn)口 價(jià)格區(qū)間 面議
儀器種類(lèi) 數(shù)字式 應(yīng)用領(lǐng)域 化工,石油,能源,航天,電氣
貝克休斯BakerHughes德國(guó)KK美國(guó)GE MB2S探頭/MB2S-E軟膜直探頭/縱波單晶探頭/超聲波探頭/MB2S-EN超聲波探傷儀探頭,頻率:2MHZ,側(cè)裝,帶寬:25,晶片直徑:10mm。用于檢測(cè)簡(jiǎn)單形狀的工件中平行于表面的缺陷、鍛件、鑄件、金屬材料、玻璃、瓷器、陶瓷和塑料、板材、棒材、方形材、容器、機(jī)器零件、殼體探傷檢測(cè)


貝克休斯BakerHughes德國(guó)KK美國(guó)GE MB2S探頭


MB2S探頭

MB2S探頭


探頭選擇準(zhǔn)則與性能說(shuō)明:


接觸法探頭

直探頭---單晶

• 被檢測(cè)件有規(guī)則外形和相對(duì)光滑的 接觸表面

• 接觸面或平或曲

• 缺陷或背反射平行于表面,可被垂 直于表面的聲束探測(cè)

• 適于穿透厚部件

• 延遲塊用以提高近場(chǎng)分辨率

• 需要耦合層,一般為凝膠,油類(lèi),漿糊

• 通常用于手動(dòng)檢測(cè)


直探頭---雙晶

• 接受發(fā)射單元用串?dāng)_擋板分開(kāi)

• 缺陷或背反射平行于表面,可被垂 直于表面的聲束探測(cè)

• 近表面分辨率好,用于較薄部件

• 需要耦合層,一般為凝膠,油類(lèi),漿糊

• 通常用于手動(dòng)檢測(cè)


斜探頭

• 晶片安裝在內(nèi)置的或者可更換的斜塊上

• 利用折射讓縱波或者橫波沿確定角度傳播

• 大多數(shù)標(biāo)準(zhǔn)探頭通過(guò)模式轉(zhuǎn)換產(chǎn)生橫波

• 適于傾斜缺陷的檢測(cè),如焊縫

• 有單晶探頭和雙晶探頭

• 需要耦合層,一般為凝膠,油類(lèi),漿糊

• 有時(shí)用于機(jī)械化或自動(dòng)化檢測(cè)


水浸法探頭

• 在水中匹配好,效率高

• 適于具有不規(guī)則表面的被檢測(cè)件

• 通常用于機(jī)械化或者自動(dòng)化檢測(cè)

• 耦合一致性好,檢測(cè)重復(fù)性高

• 大型零件可以采用探頭架, 溢流法或者水射流法

• 探頭聚焦可以增進(jìn)效果聚焦的優(yōu)點(diǎn)

• 球面聚焦形成點(diǎn)狀

• 柱面聚焦形成線狀


探頭選擇準(zhǔn)則—?dú)W洲規(guī)格

按照歐洲標(biāo)準(zhǔn)生產(chǎn)的探頭, 本目錄提供的技術(shù)性能信息依照下表定義。 絕大多數(shù)的探傷儀探頭都免費(fèi)提供性能數(shù)據(jù)表。

性能參數(shù)

解釋

晶片尺寸 D 或 a ×b

探頭晶片的直徑D或長(zhǎng)度×寬度a ×b 。它的尺寸大小對(duì)聲波的傳輸有極大的影響 。輕微的偏差,如形狀的偏差,或粘接不良造成的位置偏差而產(chǎn)生的聲能衰減,即使是利用參考缺陷進(jìn)行標(biāo)定,都將產(chǎn)生嚴(yán)重的評(píng)估誤差。

標(biāo)稱(chēng)頻率f

所有相同類(lèi)型探頭的均值頻率,頻率對(duì)反射體的評(píng)定有大的影響 。對(duì)斜反射體,頻率甚至影響聲場(chǎng) 波形和反射特性 。隨著頻率的增加,非垂直反射體對(duì)聲束的反射回波減小 。這就是為什么每一個(gè)探頭都要由我們的質(zhì)量控制部門(mén)根據(jù)鑒定標(biāo)準(zhǔn)進(jìn)行嚴(yán)格檢測(cè),以確定其頻率是否與標(biāo)稱(chēng)頻率相一致,保證在一定的誤差范圍內(nèi)。這個(gè)數(shù)據(jù)輸入到探頭的數(shù)據(jù)參數(shù)表。

帶寬B

脈沖回波的幅值比最高幅值下降6dB之間的頻率范圍。

fo=幅值下降6dB的上限頻率,fu=幅值下降6dB的下限頻率,f為標(biāo)稱(chēng)頻率。 例如,當(dāng)B=100%, 一個(gè)4 MHz的探頭的fo為6 MHz,而fu為2 MHz。

大的帶寬意味著更短的脈沖回波,也就意味著高的分辨率和更好的穿透能力, 因?yàn)榈皖l脈沖比標(biāo)稱(chēng)頻 率脈沖的衰減小 。在高衰減情形下,與標(biāo)稱(chēng)頻率相比,隨著距離的增加,反射信號(hào)的頻率減小 。這一 點(diǎn)在進(jìn)行缺陷評(píng)估時(shí)必須要加以考慮 。因此每一個(gè)探頭的帶寬都要進(jìn)行檢查,并且與所有探頭的平均值相一致,保證在一定的誤差范圍內(nèi)。

焦距F

F :小缺陷產(chǎn)生蕞大回波時(shí)探頭到小缺陷的距離。探頭要進(jìn)行聚焦以便探測(cè)小缺陷并得到蕞大的回波幅值,只有在探頭的近場(chǎng)才可能聚焦。

近場(chǎng)長(zhǎng)度N

近場(chǎng)長(zhǎng)度N是非聚焦探頭的焦距長(zhǎng)度,它是聲軸線上能得到聲壓ji大值的最遠(yuǎn)距離 。N的大小由D 、c 和f來(lái)決定 。

其中λ為波長(zhǎng),c為聲速, Deff是單元有效直徑

焦點(diǎn)處和近場(chǎng)長(zhǎng)度處聲能最為集中,反射體最易識(shí)別。因此重要測(cè)試場(chǎng)合一般預(yù)期缺陷在焦距或近場(chǎng)長(zhǎng)度處。表中的數(shù)據(jù)對(duì)鋼材而言,而水浸探頭為水。

焦點(diǎn)直徑FD6

在焦距或近場(chǎng)長(zhǎng)度附近,聲壓值比主聲軸下降6dB處到主聲軸的距離 。

脈沖形狀

來(lái)自于平面反射面的信號(hào)表述。

頻譜

回波脈沖中所有頻率的顯示,頻率幅值在頻率上顯示。

聲束角度 β

主聲束與檢測(cè)面法線之間的夾角








貝克休斯BakerHughes德國(guó)KK美國(guó)GE MB2S探頭



SEB4探頭

貝克休斯BakerHughes德國(guó)KK美國(guó)GE SEB4探頭/SEB4

SEB2探頭

貝克休斯BakerHughes德國(guó)KK美國(guó)GE SEB2探頭/SEB2

SEB1探頭

貝克休斯BakerHughes德國(guó)KK美國(guó)GE SEB1探頭/SEB1

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