產品簡介
詳細介紹
電子元器件X射線檢測站
XT V 130
設計緊湊,功能便捷,多功能小型電子部件*檢測系統
對于陸續登場的高新電子元器件,表面的檢測已經無法滿足現在客戶的檢測要求。由于內部電子電路的連接短路斷路不可直接觀測,所以高性能的X射線實時檢測顯得如此重要并且有效。針對BGA檢測,多層PCB焊錫檢測而專門開發出來的XTV130 X射線檢測系統,讓PCB電路板的缺陷檢測分析變得更加迅速靈活。其中配置的Inspect-X軟件,讓自動檢測以及電路板自動識別(選配)成為可能,以得到高效的檢測處理能力。
主要特點
• 焦點尺寸為3微米的特制微焦點槍源
• 16位色深高解析度圖像與圖像處理工具
• 可以同時放置多塊樣品電路板的大型托盤
• 大可達60°的傾斜角度觀測
• 旋轉樣品托盤(360°連續旋轉)(選配)
大可到320倍對感興趣觀測區域放大
大可傾斜60°的靈活觀測可以發現立體連接處的問題
引進功能
• 電子元器件*檢測用X射線工作站
• 不需要特別的編程技術的基于宏的自動化功能
• 針對零件特性的合格與否自動判定,離線的可視化檢測以及報告生成
• 基于VBA可以讓復雜的工序變得簡單自動化
• 多軸的方向操作桿讓在線的導航更加直觀
• X射線開管式技術讓維護成本更加低廉
• 不需要額外保護措施的射線計量安全系統
• 占用空間小,重量輕,安裝設置簡單
用途
BGA缺陷檢測
• 電子零件、電路零件
• 金線引腳連接故障點、球形虛焊點、金線弧度、芯片粘合、干接合、橋接/短路、內部氣泡、BGA等等
• 裝配前/裝配后PCB
• 零件的位置偏差,焊縫空隙、橋接、表面裝配等缺陷顯示
• 通孔鍍層,多層排列詳細檢查
• 晶圓片級芯片規模封裝(WLCSP)
• BGA以及CSP檢測
• 非鉛焊錫檢查
• 微機電系統MEMS,微光機電系統MOEMS
• 電纜,連接器,塑料件等等