詳細介紹
一、XRF-2020電鍍層測厚儀產品功能:
1、采用X射線熒光光譜法無損測量金屬鍍層厚度,單鍍層,雙鍍層,多鍍層及合金鍍層,不限基材!
1、鍍層元素范圍:鈦~鈾,包含常見的金、鎳、銅、銀、錫、鋅、金,鉻,鋅鎳合金等。
2、鍍層層數:可測5層。
3、測量產品位置尺寸:標準配備0.2mm準直器,測量產品大于0.4mm(可訂制更小準直器)
4、測量時間:通常15秒。
5、H型號機箱容納樣品尺寸:550 x 550 x 100 mm (長x寬x高)。
6 L型號機箱容納樣品尺寸:550 x 550 x 30 mm (長x寬x高)。
7、測量誤差:通常小于5%,視樣品具體情況而定。
8、可測厚度范圍:通常0.01微米到60微米,視樣品組成和鍍層結構而定。
二、產品參數:
1、X射線光管:鎢靶,焦斑尺寸0.2-0.8mm
2、高電壓:50千伏(1毫安)可根據軟件控制優化
3、探測器:高分辨氣體正比計數探測器
4、準直器:單一固定準直器直徑0.2mm(可選或訂制其他規格)
5、全自樣品臺,自動雷射對焦
(Micro pioneer XRF-2020/XRF-2000)
三、可測
1、單鍍層,雙多鍍層,多鍍層及合金鍍層
(1)鍍銀測量范圍0.1-50um
(2)鍍鎳測量范圍0.5-30um
(3)鍍銅測量范圍0.5-30um
(4)鍍錫測量范圍0.5-50um
(5)鍍金測量范圍0.02-6um
(6)鍍鋅測量范圍1-30um
(7)鋅鎳合金測量范圍1-25um
(8)鍍鉻測量范圍0.5-25um
2、儀器全自動臺面,自動雷射對焦,多點自動測量
3、多個準直器可選擇:0.1mm,0.2mm,0.3mm,0.4mm,0.03×0.5mm
4、可配多個或單個準直器,準直器大小可自動切換