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蔡司場發(fā)射掃描電子顯微鏡 Gemini系列

[ 產(chǎn)品簡介 ]

蔡司場發(fā)射掃描電子顯微鏡Gemini系列，具有出色的探測效率，能夠輕松實(shí)現(xiàn)亞納米分辨成像，適用于多種材料的高分辨成像與分析。其優(yōu)異的低電壓成像能力與表面細(xì)節(jié)靈敏度，讓您在對(duì)任意樣品進(jìn)行成像和分析時(shí)都具備更佳的靈活性，可獲取各類樣品在微觀世界中清晰、真實(shí)的圖像。為生命科學(xué)研究實(shí)驗(yàn)室、工業(yè)實(shí)驗(yàn)室、成像測試平臺(tái)、高校或研究機(jī)構(gòu)提供靈活、可靠的場發(fā)射掃描電子顯微技術(shù)與方案。

[ 產(chǎn)品特點(diǎn) ]

ü                      出色的檢測效率

ü                      優(yōu)異的低電壓分辨率和表面靈敏度

ü                      靈活的探測手段獲取高分辨的圖像

ü                      無漏磁鏡筒，輕松應(yīng)對(duì)磁性材料表征

ü                      豐富的擴(kuò)展性

[ 應(yīng)用領(lǐng)域 ]

ü                      材料科學(xué)，如納米材料表征

ü                      工業(yè)應(yīng)用，如失效分析，性能分析

ü                      生命科學(xué)，如大體積細(xì)胞高通量成像

ü                      電池領(lǐng)域，如老化分析、電池材料表征

ü                      電子半導(dǎo)體領(lǐng)域，如半導(dǎo)體器件失效研究與分析

ü                      刑偵、法醫(yī)學(xué)

ü                      考古學(xué)、文物保護(hù)與修復(fù)

InLens SE探測器磁性FeMn納米顆粒成像

InLens SE探測器NCM622正極顆粒成像

InLens SE 探測器和EsB 探測器同時(shí)對(duì)包埋在沸石中的銀納米顆粒成像

aBSD探測器FinFET結(jié)構(gòu)成像

NanoVP模式，細(xì)節(jié)兼顧景深。樣品無需噴金處理。

NanoVP模式下不導(dǎo)電玻璃片上的光刻膠樣品成像   小鼠大腦成像