材料表征領域Micromeritics麥克儀器公司將舉辦《顆粒、粉體、膜(P3)的分析與表征技術研討會》,分享及時材料表征技術及實際應用,為用戶的材料分析與表征提供完整性解決方案。誠摯邀請您出席本次研討會!
時間:2019年9月19日全天
地點:上海大華錦繡假日酒店
費用:免費
內容:
顆粒、粉體、膜的特性與綜述;
顆粒粒度分析:電阻法,X沉降法與亞篩分法
顆粒形態(tài)分析:動態(tài)圖像法
顆粒粉體分析的樣品制備:取樣,縮樣與分散
孔徑分析:氣液與液液孔徑分析方法
粉體流動性分析
報名:鏈接
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