集多種優點于一身的U-SMPS掃描電遷移率粒徑譜儀
由Palas 研發的U-SMPS掃描電遷移率粒徑譜儀,集納米測量、操作靈活便捷、監測結果精準等諸多優點于一身,適用于多種研究場景,可以有效測量和評估空氣污染程度。
Palas U-SMPS體現了高尺寸分辨率(120通道/十倍粒徑)的優勢,通過使用系統軟件PDAnalyze,一鍵自動保存數據無需外部數據記錄系統和無需額外同步設備時間,使顆粒物水平的變化清晰可見。同時可以自動合并粒徑分布圖,得到直觀的數據結果。
顆粒物監測專家Palas的納米設備擁有業內先進的測量技術,市面上單純的光學監測只能測量到大于120nm以上的顆粒,而U-SMPS組合尺寸分布為4nm至40,000nm。Palas U-SMPS掃描電遷移率粒徑譜儀可靠的監測結果可與校準中心(TROPOS,萊比錫)媲美。儀器結合了準確可靠的粒徑分析和計數功能,可提供靈活監測設備。Palas智能解決方案和緊密的客戶關系為傳統粒徑分析市場打開大門。