当前位置:赛默飞世尔科技智能制造与过程分析>>X射线衍射仪(XRD)>> ARL™ EQUINOX Pro立式X射线衍射仪
ThermoScientificARLEQUINOXPro是一款采用θ/θBragg-Brentano光学的立式X射线衍射仪。这款仪器凭借先进的软、硬件配置,实现仪器系统运行的整体优化,提升仪器分析的准确性、精确性、易用性和安全性。这款仪器能够出色地完成各类粉末晶体的衍射分析,广泛地应用于材料研发和产品质量控制的相关领域。
新型电控测角系统:小型化和分散化电机控制系统,可克服由于驱动电机失步或超步引起的位置误差,提高测角仪的整体控制精度和重复性
先进光子探测技术:前沿PTPC(脉冲触发实时位置)计数技术,通过同步脉冲触发探测器的电子门控电路,将测角仪实际到达位置与探测器响应进行同步,实现探测器计数与测角仪位置的精确对应,将角度位置与信号采集精确控制在行业先进级别
魔卡免维护设计:光路魔卡设计系统和机械误差动态补偿技术,通过整个光路系统上的组件、光源高低、倾角、狭缝架高低、探测器的魔卡设计,支持用户在切换光路和样品台后无需再次校正,直接使用仪器
规格参数:
X射线光源 | 高压发生器:3kW或4kW可选 | |
X射线光管靶材:Cr、Co、Cu、Mo、Ag可选 | ||
探测器 | 零维探测器:闪烁计数器 | |
一维探测器:MYTHEN2系列 | ||
二维探测器:ELGER2 R系列或ADVAPIX系列 | ||
测角仪 | θ/θ几何结构(样品水平) | 测角仪运动范围: -110°<2θ<+168° |
测角仪半径:Max.300 mm,连续可调 | 测角仪最小步长:0.0001° | |
测角仪技术:带光学编码的伺服电机闭环控制 | ||
计算机 | Windows10或11 | |
主控软件 | 仪器控制及数据采集软件—Measurement Scan | |
软件 | 数据分析软件 — Match!或MDUA DE | |
晶体学数据库 | ICDD PDF或COD或PCD | |
供电 | 230 V交流单相50 Hz | |
重量 | ~650 kg | |
尺寸(高宽深) | 1923 mm x 1300 mm x 1135 mm | |
分辨率 | FWHM<0.026°(LaB6 (110)) | |
准确性 | 全范围不超过+/-0.01° |