Fischerscope菲希爾X熒光射線儀器

菲希爾X射線測厚儀Fischerscope X-RAY典型的應用領域有：

>測量大型工件的鍍層，如：機械零件和外殼

>在電鍍過程中進行移動實時測量

>對合金材料進行移動實時檢測

菲希爾X射線測厚儀正如所有的FISCHERSCOPE X-RAY儀器一樣，本款儀器有著確性以及長期的穩定性，這樣就減少了校準儀器所需的時間和精力。

菲希爾X射線測厚儀XAN500采用硅漂移探測器能夠達到高的分析精度及探測靈敏度。FISCHER基本參數法，可以在沒有校驗標準片校正的情況下分析固、液態樣品的成分及測量樣品的鍍層厚度。

菲希爾X射線測厚儀使用XAN500型手持式儀器可以對大型工件以及臺式儀器難以測量的位置進行便捷快速的測量。儀器可以安全放置到工件上，無論是鍍層測厚或者材料分析，都可以保證其測量結果的再現性。同時，儀器可選配便攜式智能箱，使其成為小型的臺式測量設備，以便檢測小型樣品。