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產地類別 | 進口 | 價格區間 | 面議 |
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應用領域 | 環保,生物產業,制藥,綜合 |
菲希爾X射線XAN215
FISCHERSCOPE X-RAY XAN 215是一款入門級能量色散型X射線熒光材料分析及鍍層測厚儀,通常用于對珠寶、錢幣和貴金屬等進行無損分析。它適合分析貴金屬及其合金的成分以及測量鍍層的厚度,從元素氯(17)到鈾(92),可同時測定24種元素。正如所有的FISCHERSCOPE X-RAY 儀器一樣,減少了校準儀器所需的時間和精力。Si-PIN的基本參數法,可以在沒有校驗標準片校正的情況下分析固、液態樣品的成分及測量樣品的鍍層厚度。
通用規格 | |
設計用途 | 采用能量色散型X射線熒光光譜法(EDXRF), 用以分析貴金屬及其合金的成分以及測量鍍層的厚度 |
元素范圍 | 從元素氯(17)到鈾(92),可同時測定24種元素。 |
重復性 | 測量金元素時≤1‰,測量時間60秒 |
形式設計 | 臺式儀器,測量門向上開啟 |
測量方向 | 由下往上 |
X射線源 | |
X射線管 | 帶鈹窗口的鎢靶射線管 |
高壓 | 三檔:30KV,40KV,50KV |
孔徑(準直器) | φ1mm;可選φ2mm |
測量點尺寸 | 當測量距離MD=0mm時,測量點直徑=孔徑直徑+200μm |
X射線探測 | |
X射線探測器 | 采用珀耳帖了法冷卻的Si-PIN接收器 |
能量分辨率 (Mn元素Kα半高寬) | ≤180eV |
測量距離 | 0...10mm |
通過DCM測量距離補償法,可在不同測量距離上不需要重新校準就能進行測量;對于特殊的應用或者對測量精度要求較高的測量,可能需要進行額外的校準。 |
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