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當前位置：無錫駿展儀器有限責任公司>>Fischer菲希爾代理>>菲希爾x射線測厚儀>> FISCHERSCOPE X-RAY XAN252
| 產地類別 | 進口 | 價格區間 | 面議 |
|---|---|---|---|
| 應用領域 | 環保,生物產業,制藥,綜合 |
FISCHERSCOPE X-RAY XAN252
高性能機型，具有強大的綜合測量能力
配有4 個電動調節的準直器和6個電動調節的基本慮片
配備高分辨率硅漂移探測器 (SDD)，還適用于更復雜的多元素分析
由下至上的測量方向，可以非常簡便地實現樣品定位
對電子和半導體行業中僅幾個納米的功能性鍍層進行測量
對有害物質進行痕量分析，例如，玩具中的鉛含量
在珠寶和手表業，以及在金屬精煉領域，對合金進行高精度的分析
用于高校研究和工業研發領域
FISCHERSCOPE® XDL®
X射線熒光測試儀，可手動或全自動測量功能性鍍層(包括鉻層測厚、銅厚測量)、防腐蝕鍍層和大規模生產零部件
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