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熱電薄膜塞貝克參數(shù)測試儀
薄膜熱電參數(shù)測試系統(tǒng)RS-3專門針對薄膜材料的變溫seebeck系數(shù)和電阻率的測量儀器，采用動態(tài)法和四線法保證測試結(jié)果的準(zhǔn)確和穩(wěn)定，擁有寬廣的測試范圍和便捷的操作界面。
產(chǎn)品簡介
詳細(xì)介紹
熱電薄膜塞貝克參數(shù)測試儀
薄膜熱電參數(shù)測試系統(tǒng)MRS-3專門針對薄膜材料的變溫seebeck系數(shù)和電阻率的測量儀器，采用動態(tài)法和四線法保證測試結(jié)果的準(zhǔn)確和穩(wěn)定，擁有寬廣的測試范圍和便捷的操作界面。
● 專門針對薄膜材料的Seebeck系數(shù)和電阻率測量。
● 測試環(huán)境溫度范圍達(dá)到81K~700K。
● 采用動態(tài)法測 量Seebeck系數(shù)，避免了靜態(tài)測量在溫差測量上的系統(tǒng)誤差，測量更準(zhǔn)確。
● 真空度≤10Pa
● 塞貝克系數(shù)測量范圍：S≥8uV/K；分辨率≤±7
● 采用四線法測量電阻率。
● 卡箍設(shè)計，方便進(jìn)行樣品更換，提高效率。
● 軟件操作簡單，智能化可實(shí)現(xiàn)全自動模式。
應(yīng)用
● Seebeck效應(yīng)
● Peltier效應(yīng)
熱電薄膜塞貝克參數(shù)測試儀