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產品簡介
X200M包含優異的電磁屏蔽系統，可直接搭載高低溫CHUCK，輕松實現高品質的I-V、C-V、RF 等測試。
詳細介紹
X200M擁有穩定可靠的測試平臺，保證測試中的扎針質量。優異的光學系統結合分辨率＜2μm的針座系統，確保扎針的穩定性。直流應用中，X200M高品質的電纜和三軸信號通路，可使DUT特性分析達到fA水平；射頻應用中，通過縮短擴頻模塊與探針之間連接器的距離，可高效且更好地實現THz內器件高品質參數的提取。優異的三軸低漏電載物臺選件，提高器件測試的信心。載物臺的單手快速移動及升降、一體化真空開關等優化設計使操作流程更加簡潔與人性化，無論是初學者還是經驗者，使用起來都非常方便、易懂。
專門為升級和擴展所設計的各種選項， 可輕松實現如負載牽引系統、太赫茲系統、 輻照系統、1/f噪聲等系統的搭載，X200M 系統也可根據您的未來項目需求重新配置。
