賽默飛Axia ChemiSEM 鎢燈絲掃描電鏡,該儀器將微區成分分析與電鏡成像集成在同一平臺上,快速提供所需微觀形貌及實時成分信息,幫助學術和工業用戶快速獲得全面、可靠的數據,準確執行故障分析和缺陷檢測。
賽默飛Axia ChemiSEM 鎢燈絲掃描電鏡主要技術參數及特點:
•通用型 SEM 系統,可涵蓋多種類型樣品。可分析絕緣材料、處理大而重(達10 kg)的樣品,同時能夠分析常規的小尺寸樣品。
•靈活性 SEM 系統,支持各類功能附件。
•使用便捷,不依賴于用戶操作水平、能夠便捷提供元素或化學信息。
•高度自動化,自動對中技術確保系統始終處于最佳工作狀態,用戶指南及撤銷功能幫助用戶更輕松操作系統。
•處理效率高:實時定量成分分析成像,更快獲得定量分析數據。
•分辨率:3nm@30kV,8nm@3kV