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目錄:賽默飛電子顯微鏡>>掃描電鏡(SEM)>> 賽默飛(原FEI)Volumescope 2 sem掃描電鏡

賽默飛(原FEI)Volumescope 2 sem掃描電鏡
  • 賽默飛(原FEI)Volumescope 2 sem掃描電鏡
參考價7000000-15000000
具體成交價以合同協議為準

參考價:¥7000000 ~ ¥15000000

具體成交價以合同協議為準
  • FEI/賽默飛 品牌
  • 型號
  • 生產商 廠商性質
  • 上海市 所在地

更新時間:2024-08-28 13:08:54瀏覽次數:1306評價

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產地類別 進口 價格區間 700萬-1500萬
儀器種類 冷場發射 應用領域 化工
賽默飛(原FEI)Volumescope 2 sem掃描電鏡簡單易用,讓使用者能夠精準的控制實驗,已驗證的解決方案適用于各種樣品類型,保證數據采集的每一步都達到最高的質量,從而保護有價值的樣品。
  在大體積樣品上獲得最高質量三個方向分辨率一致三維數據
 
  生命科學專用的賽默飛(原FEI)Volumescope 2 sem掃描電鏡是我們先進的連續切面成像系統(Serial Block Face Imaging,SBFI)。該系統簡單易用,讓使用者能夠精準的控制實驗,已驗證的解決方案適用于各種樣品類型,保證數據采集的每一步都達到最高的質量,從而保護有價值的樣品。
 
  賽默飛(原FEI)Volumescope 2 sem掃描電鏡核心優勢:
 
  簡單易用:
 
  能夠重復使用的工作和系統設置
 
  在采集過程中創建多個ROI
 
  在采集過程中可以使用 Amira Live Tracker 功能進行可視化和導航操作,以實時優化/控制結果
 
  可在無人值守情況下采集大體積樣品的三維數據,并自動進行重構,為研究人員騰出寶貴的時間
 
  輕松、快速地安裝和卸載超薄切片機以便在常規掃描電鏡和自動化陣列式斷層掃描成像(Array Tomography,AT)之前切換,后者需選配 Thermo Scientific Maps 軟件
 
  在每個采集步驟中,使用經過測試的、適用于各種類型樣品的解決方案來保護珍貴的樣品:
 
  通過密集測試確保系統性能和可靠性
 
  通過碎片識別功能實現碎片捕集和Swipe滑動以很大化對樣品的有效保護
 
  可使用HiVac和LoVac兩種模式采集荷電樣品,更可靠;LoVac探頭(VSDBS)用于高荷電樣品,可提供與HiVac相當的數據質量
 
  MED確保在z軸方向上獲得最高的圖像質量(高達10 nm的光學切片以實現各向同性的分辨率)
 

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