產地類別 | 國產 | 價格區間 | 面議 |
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應用領域 | 環保,化工 |
通過選配 ChemiSEM 技術和集成能量色散 X 射線光譜(EDS)進行實時成分面分布以實現直觀元素分析。這種始終在線的分析能力可極大提高您的工作效率,并獲取最完整的樣品信息。
靈活的真空模式以及通過透鏡抽真空技術,使Prisma E環境掃描電鏡可在低電壓和低真空下獲得出色的圖像質量。且在每個操作模式下,都可實現二級電子 (SE) 和背散射電子 (BSE) 同時成像。
低真空和ESEM環境掃描電鏡功能可對非導電和/或含水樣品進行無電荷/或無脫水成像和分析。
憑借 Prisma E的環境掃描電鏡 (ESEM) 模式、可在樣品加熱、放氣或潮濕的狀態下直接成像。
倉室支持最多安裝3 個 EDS 探測器,其中兩個EDS接口呈180°對稱,并可安裝波長色散光譜 (WDS)、共面 EDS/EBSD,并可在低真空模式下實現高質量無電荷 EDS 和 EBSD 分析。
參數 |
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標準檢測器 |
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可選檢測器 |
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ChemiSEM 技術(可選) |
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樣品臺減速(可選) |
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低真空模式 |
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樣品臺 |
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標準樣品支架 |
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樣品倉 |
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原位配件(可選) |
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軟件選項 |
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Prisma E環境掃描電鏡相關操作軟件具有用戶指南和撤消功能,可以使新手用戶進行高效的操作,也可極大減少專家級用戶的操作負荷。