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YP-XM-小麥表型測量儀
  • YP-XM-小麥表型測量儀
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貨物所在地:山東濰坊市

更新時間:2024-12-13 14:33:22

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小麥表型測量儀可用于小麥株高、夾角、基粗、小麥畝穗數、理論產量、穗長、小穗數、總粒數和千粒重等指標的測量,可多點快速取樣數據可批量分析并獲取平均值。

優云譜小麥表型測量儀

小麥育種研究中,小麥表型參數至關重要,小麥表型檢測儀可用于小麥株高、夾角、基粗、小麥畝穗數、理論產量、穗長、小穗數、總粒數和千粒重等指標的測量,可多點快速取樣數據可批量分析并獲取平均值。這些表型參數小麥品種篩選、小麥產量預測、麥穗動態發育、基因定位、功能解析和小麥遺傳育種中發揮著至關重要的作用。軟件集合多方面功能為一體,一站式解決小麥的表型參數測量問題。廣泛適用于各農科院、高校、育種公司、種子站的小麥研究。

優云譜小麥表型測量儀應用廣泛:

1、小麥畝穗數檢測合適時期: 小麥抽穗期、開花期、灌漿期、成熟前期的小麥。

2、麥穗形態測量的時期:室內考種時期:

3、小麥夾角測量時期:抽穗期、開花期、灌漿期、乳熟期。

4、千粒重測量時期: 室內考種時期。

5、小麥株高測量時期: 各個生育時期。

三、技術參數:

測量范圍和誤差:

1、小麥畝穗數測量誤差: ≤±5%。

2、麥穗形態測量范圍:   5~20cm。

穗長誤差:      ±2%。

小穗數誤差:    ≤ 3個。

3、小麥夾角測量范圍:   0-180°。

作物粗:        0-5.2cm。

夾角測量誤差:  +5%。

4、作物莖粗測量誤差:   ±1%。

5、千粒重測量誤差:     ±2%。

6、株高測量范圍:       0.1-1.1m。

測量誤差:      ±1%。






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