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產地類別 | 進口 | 價格區間 | 0-5萬 |
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應用領域 | 能源,電子,航天,電氣,綜合 | 訂貨號 | 1562.2816.333 |
根據具體要求可以選擇黃光和白光兩種光源 可檢測各種缺陷 如硅片 砷化鎵 碳化硅等半導體晶片及液晶基板表面的異物 劃痕 拋光不均 霧狀 劃傷等。
原裝供貨YAMADA山田光學 表面瑕疵檢查燈根據具體要求可以選擇黃光和白光兩種光源 可檢測各種缺陷 如硅片 砷化鎵 碳化硅等半導體晶片及液晶基板表面的異物 劃痕 拋光不均 霧狀 劃傷等。
可照明様品表面範囲於400.000Lx以上。
原裝供貨YAMADA山田光學 表面瑕疵檢查燈因使用鹵素光源燈的光源,具有色溫度高、光照不均的減少及非常穏定鋭利照明的特性。
冷反射鏡受熱影響是鋁鏡的1/3
二段切換構造,可用按扭切換高照明観察及低照明観察。
型號:YP-150I照度范圍φ30 可對應檢查6寸半導體晶片。
型號:YP-250I照度范圍φ60 可對應檢查8英寸半導體晶(通風機可選擇螺旋式風扇或者管道通風型)
宏観観察用的照明設備,可検測各種缺陥如半導體晶片及液晶基板制品表面的異物、刮痕、拋光不均、霧狀、劃傷等。
大于400,000luxes的照明光線可容易檢測出只有精密探測儀才可測出的瑕疵。(照射面積為 30mmdia).
使用鹵素燈作為光源,色溫高達3400K,照光和顏色均一了穩定強光的照射。
由于冷鏡的使用,使得熱影響與常規鋁鏡相比較少1/2 到 1/3
光束直徑由鏡片調整30-50mm 之間調整
底部開光,調整照明勘察器高度,操作簡便,可控制光量