美國Dakota NDT CMX 腐蝕超聲波測厚儀系列易于使用，為檢查人員提供同時測量材料和涂層厚度所需的所有功能。
聰明的
用戶可定義通過/失敗指示的限制
通過聲音和視覺警告，為單個讀數或每批的通過/失敗指示設置限制。
強大的
存儲每個測量值以供進一步分析
每次測量時，儀器內存中最多可保存 4GB 讀數，稍后可將其下載到檢測應用程序或 DakMaster ™軟件中以進行進一步分析和報告。
多才多藝的
能夠測量涂層和材料厚度
Dakota CMX 超聲波測厚儀能夠同時測量涂層和材料厚度，同時保持定位材料中的凹坑、瑕疵和缺陷的能力。
可定制
選擇并自定義閱讀顯示
Dakota NDT CMX 測厚儀系列有多種顯示模式可供選擇，允許用戶選擇適合自己需求的模式； Dakota CMX2-DL 腐蝕測厚儀和 Dakota CMX3-DL 腐蝕測厚儀上的讀數、B 掃描、B 掃描與讀數、掃描條和 A 掃描相結合。
Dakota NDT CMX 腐蝕超聲波測厚儀概括：
Dakota NDT CMX 超聲波腐蝕測厚儀有四種型號 - 從入門級 Dakota CMX1 超聲波測厚儀到頂級 Dakota CMX3-DL 超聲波測厚儀。
顯示和測量選項范圍：脈沖回波、回波-回波、脈沖-回波溫度、補償模式 (PETP)、僅涂層模式 (CT)、脈沖回波涂層模式 (PECT)
手動或自動增益控制 (AGC)，可調范圍 110dB
門控
閾值調整
64 個用戶定義的設置
多語言顯示
多種校準和材料選擇選項
高速掃描模式：每秒 250 個讀數（Dakota CMX1 超聲波測厚儀和 Dakota CMX1-DL 超聲波測厚儀），每秒 50 個讀數（Dakota CMX2-DL 超聲波測厚儀和 Dakota CMX3-DL 超聲波測厚儀）
A 掃描縱向和橫向視圖（僅限 Dakota CMX3-DL 超聲波測厚儀）
差異和最小厚度報警模式
數據輸出和存儲：4GB內存
下載 DakMaster ™數據管理軟件
Dakota CMX 腐蝕超聲波測厚儀主要特點：
Dakota CMX 功能解釋
重復性/穩定性指示器
由6個垂直條組成，當所有條都照亮并且數字厚度值的最后一位穩定時，儀表可以可靠地測量材料厚度。
差模
一旦設置了用戶定義的標稱厚度值，儀表將顯示與輸入的標稱值的+/-厚度差。
具有最小厚度顯示的高速掃描
通過顯著提高測量刷新率，該模式允許用戶對測試材料進行掃描。最小厚度值保存在內存中，并在掃描完成時顯示。此功能還可以與最小和最大限制報警功能結合使用（取決于型號）。
極限報警方式
用戶可以定義最小和最大厚度限制。如果測量值超出上限或下限，紅色 LED 將會亮起，并且蜂鳴器會發出聲音。綠色 LED 將亮起，表示厚度可接受。
V 路徑校正
雙元件傳感器由帶有兩個晶體的探頭組成（一個用于發射，一個用于接收聲音脈沖）。這些晶體被聲屏障隔開，當聲音從一個元件傳播到另一個元件時，會產生“V 形"聲音路徑。該路徑比直接路徑稍長，因此使用 V 路徑校正來計算正確的厚度
測量模式解釋
脈沖-回波模式 (PE)：
正常顯示模式測量從傳感器探頭底部到材料密度邊界（通常是后壁）的總厚度。非常適合凹坑和缺陷檢測。
脈沖 - 回波溫度補償模式 (PETP)：
與 PE 模式類似，PETP 會考慮并補償由溫度變化引起的測量變化。
僅涂層模式 (CT)：
顯示應用于材料的涂層厚度。
基本缺陷模式（FLAW MODE）：
CMX2-DL 和 CMX3-DL 腐蝕測厚儀可使用單元件角束傳感器進行基本的探傷探傷檢測。
回聲 - 回聲模式 (EE)：
EE 也稱為 ThruPaint™ 模式，忽略涂層厚度，顯示從材料頂面到材料密度邊界的材料厚度。
回波 - 回波驗證模式 (EEV)：
回波-回波驗證模式通過比較 3 次反射之間的值進行測量，通常用于消除表面涂層的誤差以及在多層材料中進行測量。
脈沖-回波涂層模式 (PECT)：
同時顯示材料厚度（PE）和涂層厚度（CT）。
顯示模式解釋
材料厚度數字顯示：
所有型號上的標準顯示屏，以毫米 (MM) 或英寸 (IN) 為單位顯示數字厚度值。
掃描條顯示：
線性圖形顯示器允許用戶以圖形方式監控厚度讀數的變化。由于用戶可以調整刻度范圍，因此該顯示器非常適合觀察材料厚度的微小變化。
B 掃描顯示：
基于時間的厚度橫截面 2D 框圖提供了材料厚度的圖形視圖 - 非常適合相對深度分析。
A 掃描顯示；全波（射頻）： *
A 掃描顯示屏顯示由被測材料反射的聲音或振動產生的正弦波。在 RF 模式下，顯示完整波形。
A 掃描顯示；糾正（+或-）： *
用戶可以選擇查看完整波形 (RF) 的正周期或負周期。該校正 (RECT) 顯示顯示回波幅度與傳播時間的關系。
* 僅適用于 CMX2-DL 和 CMX3-DL 測厚儀型號
技術參數：
模型 | CMX1 | CMX1-DL | CMX2-DL | CMX3-DL |
顯示模式 | ||||
材料厚度數字顯示 | * | * | * | * |
B 掃描橫截面顯示 | * | * | * | * |
結合 B 掃描和數字顯示 | * | * | * | * |
涂層厚度顯示 | * | * | * | * |
掃描條顯示 | * | * | * | * |
A 掃描顯示 | + 整流、- 整流、全波形 (RF) | + 整流，- 整流，全波形 (RF) 縱向和橫向視圖 | ||
測量范圍 | PE: 0.63 - 1219.2mm | PE: 0.63 - 1219.2mm | PE: 0.63 - 1219.2mm | PE: 0.63 - 1219.2mm |
測量速率 | ||||
手動的 | 每秒 8 個讀數 | 每秒 8 個讀數 | 每秒 8 個讀數 | 每秒 8 個讀數 |
掃描模式 | 每秒 250 個讀數 | 每秒 250 個讀數 | 每秒 50 個讀數 | 每秒 50 個讀數 |
掃描條顯示 | 每秒 10 個讀數 | 每秒 10 個讀數 | 每秒 10 個讀數 | 每秒 10 個讀數 |
測量分辨率 | 0.01 毫米（0.001 英寸） | 0.01 毫米（0.001 英寸） | 0.01mm (0.001"), 0.001mm (0.0001") 可選 | 0.01mm (0.001"), 0.001mm (0.0001") 可選 |
速度校準范圍 | 309.88 - 18,542m/s | 309.88 - 18,542m/s | 309.88 - 18,542m/s | 309.88 - 18,542m/s |
附加功能 | ||||
高速掃描模式 | * | |||
差模 | * | |||
限位報警方式 | * | |||
B 掃描顯示速度 | 每秒 15 個讀數 | 每秒 15 個讀數 | 每秒 15 個讀數 | 每秒 10 至 200 個讀數 |
缺陷模式 | 使用單元件角束傳感器進行基本探傷探傷 | 使用單元件角束傳感器進行基本探傷探傷 | ||
校準設置 | 64 個用戶可定義的設置可在 PC 存檔之間傳輸 | |||
蓋茨 | 3 個可調的門：開始、停止、寬度和閾值 | 3 個可調的門：開始、停止、寬度和閾值 | ||
減震 | 可調阻尼（50 - 1500 歐姆） | 可調阻尼（50 - 1500 歐姆） | ||
脈沖發生器類型 | 雙方波脈沖發生器 | 雙方波脈沖發生器 | 雙方波脈沖發生器 | 雙方波脈沖發生器 |
獲得 | 手動或自動增益控制 (AGC)，范圍 110dB（有限） | 手動或自動增益控制 (AGC)，范圍 110dB（有限） | 手動、自動增益控制 (AGC)，范圍 110dB（有限），線性時間相關增益 (TDG)，斜率可調 | 手動、自動增益控制 (AGC)，范圍 110dB（有限），線性時間相關增益 (TDG)，斜率可調 |
定時 | 精密溫控晶體振蕩器 (TCXO) 定時，具有單次 100MHz 8 位超低功耗數字化儀 | 精密溫控晶體振蕩器 (TCXO) 定時，具有單次 100MHz 8 位超低功耗數字化儀 | 精密溫控晶體振蕩器 (TCXO) 定時，具有單次 100MHz 8 位超低功耗數字化儀 | 精密溫控晶體振蕩器 (TCXO) 定時，具有單次 100MHz 8 位超低功耗數字化儀 |
內存和數據記錄 | • 4GB 內存 | • 4GB 內存 | • 4GB 內存 | • 4GB 內存 |
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